损伤对猕猴桃果实电特性的影响

以猕猴桃品种"海沃德"果实为材料,采后果实经50cm高处自由落体碰伤处理,利用日置智能LCR测试仪测定了果实的6个电参数(复阻抗Z、并联等效电容Cp、并联等效电感Lp、损耗系数D、电导G、阻抗相角θ)在6个电场频率(100、158、251、398、631kHz和1MHz)条件下的变化,以及随着贮藏时间的延长各电参数的变化。结果表明:在(25±1)℃条件下,随着电激频率的增加,无论损伤果还是对照果,Z、Lp均呈逐渐减小的变化趋势,Cp、G呈逐渐增加的变化趋势,D呈现先上升后下降的变化趋势,θ呈现先下降后上升的变化趋势。损伤果采后Z在6个电激频率条件下都显著低于对照果,所以Z可作为区分其损伤与否的敏感电参数。在100kHz和251kHz两个电激频率条件下,损伤果采后D值显著高于对照果,所以在这两个特征频率条件下D可作为区分"海沃德"猕猴桃果实损伤与否的敏感电参数。