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EFFECT OF IMPURITIES ON ANNEALING BEHAVIOR OF IRRADIATED SILICON
被引:50
作者
:
HIRATA, M
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HIRATA, M
HIRATA, M
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HIRATA, M
SAITO, H
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SAITO, H
CRAWFORD, JH
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CRAWFORD, JH
机构
:
来源
:
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS
|
1967年
/ 38卷
/ 06期
关键词
:
D O I
:
10.1063/1.1709922
中图分类号
:
O59 [应用物理学];
学科分类号
:
摘要
:
引用
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页码:2433 / &
相关论文
共 25 条
[21]
WATKINS GD, 1965, PHYS REV, V138, pA555
[22]
WATKINS GD, 1964, 1964 P S RAD DAM SEM
[23]
ELECTRON-BOMBARDMENT DAMAGE IN OXYGEN-FREE SILICON
WERTHEIM, GK
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WERTHEIM, GK
BUCHANAN, DNE
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BUCHANAN, DNE
[J].
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS,
1959,
30
(08)
: 1232
-
1234
[24]
NEUTRON-BOMBARDMENT DAMAGE IN SILICON
WERTHEIM, GK
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[J].
PHYSICAL REVIEW,
1958,
111
(06):
: 1500
-
1505
[25]
ELECTRON-BOMBARDMENT DAMAGE IN SILICON
WERTHEIM, GK
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WERTHEIM, GK
[J].
PHYSICAL REVIEW,
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110
(06):
: 1272
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[21]
WATKINS GD, 1965, PHYS REV, V138, pA555
[22]
WATKINS GD, 1964, 1964 P S RAD DAM SEM
[23]
ELECTRON-BOMBARDMENT DAMAGE IN OXYGEN-FREE SILICON
WERTHEIM, GK
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WERTHEIM, GK
BUCHANAN, DNE
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BUCHANAN, DNE
[J].
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS,
1959,
30
(08)
: 1232
-
1234
[24]
NEUTRON-BOMBARDMENT DAMAGE IN SILICON
WERTHEIM, GK
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WERTHEIM, GK
[J].
PHYSICAL REVIEW,
1958,
111
(06):
: 1500
-
1505
[25]
ELECTRON-BOMBARDMENT DAMAGE IN SILICON
WERTHEIM, GK
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WERTHEIM, GK
[J].
PHYSICAL REVIEW,
1958,
110
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