ACCURATE THEORETICAL ARSENIC DIFFUSION PROFILES IN SILICON FROM PROCESSING DATA

被引:15
作者
JAIN, RK [1 ]
VANOVERSTRAETEN, RJ [1 ]
机构
[1] KATHOLIEKE UNIV LEUVEN,DEPT ELEKTROTECH,LAB FYS & ELEKTR HALFGELEIDERS,KARDINAAL MERCIERLAAN 94,3030 HEVERLE,BELGIUM
关键词
D O I
10.1149/1.2134258
中图分类号
O646 [电化学、电解、磁化学];
学科分类号
081704 ;
摘要
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页数:6
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