PHOTOINDUCED DEGRADATION OF ALPHA-SI-H DIODES WITH AN NIN STRUCTURE

被引:30
作者
PFLEIDERER, H
KUSIAN, W
KRUHLER, W
机构
关键词
D O I
10.1016/0038-1098(84)90671-9
中图分类号
O469 [凝聚态物理学];
学科分类号
070205 ;
摘要
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页数:3
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