CHARGE STORAGE BY IRRADIATION WITH UV LIGHT IN NON-BIASED MNOS STRUCTURES

被引:11
作者
JACOBS, EP [1 ]
DORDA, G [1 ]
机构
[1] SIEMENS AG,FORSCHUNGSLAB,D-8000 MUNICH 80,FED REP GER
关键词
D O I
10.1016/0038-1101(77)90122-8
中图分类号
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
0808 ; 0809 ;
摘要
引用
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页数:5
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