GRAIN-GROWTH OF POLYCRYSTALLINE SILICON FILMS ON SIO2 BY CW SCANNING ELECTRON-BEAM ANNEALING

被引:11
作者
SHIBATA, K [1 ]
INOUE, T [1 ]
TAKIGAWA, T [1 ]
YOSHII, S [1 ]
机构
[1] TOSHIBA CORP,TOSHIBA SEMICONDUCTOR DEVICE ENGN LAB,72 HORIKAWA CHO,SAIWAI KU,KAWASAKI,KANAGAWA 210,JAPAN
关键词
D O I
10.1063/1.92839
中图分类号
O59 [应用物理学];
学科分类号
摘要
引用
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页数:3
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