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一种集成电路元件的双面测试装置及测试方法

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202311642456.3
申请日：
2023-12-04
公开(公告)号：
CN117347837A
公开(公告)日：
2024-01-05
发明(设计)人：
王晓丹 王曦 颜鑫
申请人：
四川弘仁财电科技有限公司
申请人地址：
610000 四川省成都市中国(四川)自由贸易试验区成都市双流区西南航空港经济开发区黄甲街道华府大道四段999号
IPC主分类号：
G01R31/28
IPC分类号：
B65G15/20 B65G43/08 G01R1/02
代理机构：
成都汇浪淘知识产权代理事务所(普通合伙) 51381
代理人：
陈莉
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
四川省 成都市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2024-01-23 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20231204
2024-01-05 公开 公开
2024-02-13 授权 授权
共 50 条
[1]
一种集成电路元件的双面测试装置及测试方法 [P]. 
王晓丹 ;
王曦 ;
颜鑫 .
中国专利 :CN117347837B ,2024-02-13
[2]
一种集成电路测试装置 [P]. 
江耀明 ;
梁文华 ;
廖国洪 ;
廖慧霞 ;
莫嘉 .
中国专利 :CN221726084U ,2024-09-17
[3]
集成电路测试座及集成电路测试装置 [P]. 
程振 ;
李志雄 ;
刘旭 ;
王平 ;
燕祖德 .
中国专利 :CN214375125U ,2021-10-08
[4]
集成电路元件测试装置及测试方法 [P]. 
罗鹏飞 ;
刘兴 ;
王晨 .
中国专利 :CN110031748A ,2019-07-19
[5]
用于集成电路测试的PCB板及集成电路测试装置 [P]. 
李远 ;
盖晓峰 .
中国专利 :CN222996768U ,2025-06-17
[6]
一种集成电路测试装置 [P]. 
栾海林 ;
吴松青 .
中国专利 :CN210465604U ,2020-05-05
[7]
一种集成电路测试装置 [P]. 
李燕 .
中国专利 :CN220933133U ,2024-05-10
[8]
一种集成电路的测试装置 [P]. 
王朝刚 ;
陈达锦 .
中国专利 :CN119689207A ,2025-03-25
[9]
一种射频集成电路测试装置及测试平台 [P]. 
冯建呈 ;
郑永丰 ;
闵昆龙 ;
杨旸 ;
闫丽琴 ;
李明军 ;
刘延迪 ;
刘治超 ;
张少帅 ;
张洋 ;
白晓远 ;
王奇之 ;
孟旭 ;
王梦琪 ;
李广振 ;
王占选 .
中国专利 :CN114280462A ,2022-04-05
[10]
一种射频集成电路测试装置及测试平台 [P]. 
冯建呈 ;
郑永丰 ;
闵昆龙 ;
杨旸 ;
闫丽琴 ;
李明军 ;
刘延迪 ;
刘治超 ;
张少帅 ;
张洋 ;
白晓远 ;
王奇之 ;
孟旭 ;
王梦琪 ;
李广振 ;
王占选 .
中国专利 :CN114280462B ,2024-08-23
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