一种用于半导体器件的测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202322654857.2

申请日：

2023-09-28

公开(公告)号：

CN220854969U

公开(公告)日：

2024-04-26

发明(设计)人：

蒋小金刘栋刘顺

申请人：

芯恩（青岛）集成电路有限公司

申请人地址：

266000 山东省青岛市黄岛区太白山路19号德国企业南区401

IPC主分类号：

G01R1/04

IPC分类号：

G01R31/26 G05D23/19

代理机构：

上海恒锐佳知识产权代理事务所(普通合伙) 31286

代理人：

黄海霞

法律状态：

授权

国省代码：

山东省青岛市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-04-26	授权	授权

共 50 条

[1]

用于半导体器件的测试装置 [P].

丘炜光 ;

陈新军 ;

谢景祺 ;

柏铭 .

中国专利 :CN223597818U ,2025-11-25

[2]

一种半导体器件测试装置 [P].

林俊 .

中国专利 :CN212646889U ,2021-03-02

[3]

半导体器件的测试装置 [P].

陈伟 ;

徐勇 ;

叶建国 ;

韩宙 ;

程华胜 ;

魏春阳 .

中国专利 :CN205786998U ,2016-12-07

[4]

半导体器件测试装置 [P].

杨浩 .

中国专利 :CN214795085U ,2021-11-19

[5]

半导体器件测试装置 [P].

吴胜 ;

王锋 ;

徐祁华 .

中国专利 :CN217766707U ,2022-11-08

[6]

一种用于半导体器件的快速测试装置 [P].

谢红 ;

谢丁生 ;

吕学飞 ;

王韶华 ;

晏建发 ;

赵振浩 ;

林伟旺 .

中国专利 :CN220961733U ,2024-05-14

[7]

一种半导体器件的测试装置 [P].

张霖芝 ;

田帅 .

中国专利 :CN221351661U ,2024-07-16

[8]

一种半导体器件的测试装置 [P].

昝佳琳 .

中国专利 :CN210862782U ,2020-06-26

[9]

用于半导体器件测试的测试装置 [P].

叶守银 ;

刘远华 ;

余琨 ;

王锦 ;

陈燕 .

中国专利 :CN102707219A ,2012-10-03

[10]

一种半导体器件测试装置 [P].

李鹏旭 ;

张清 .

中国专利 :CN211706838U ,2020-10-20

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