共 50 条
[21]
[22]
[23]
[24]
[25]
[26]
[27]
[28]
[29]
[30]
一种用于半导体器件的测试装置
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202322654857.2
申请日：
2023-09-28
公开(公告)号：
CN220854969U
公开(公告)日：
2024-04-26
发明(设计)人：
蒋小金
刘栋
刘顺
申请人：
芯恩（青岛）集成电路有限公司
申请人地址：
266000 山东省青岛市黄岛区太白山路19号德国企业南区401
IPC主分类号：
G01R1/04
IPC分类号：
G01R31/26
G05D23/19
代理机构：
上海恒锐佳知识产权代理事务所(普通合伙) 31286
代理人：
黄海霞
法律状态：
授权
国省代码：
山东省
青岛市
引用
下载
收藏
法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2024-04-26 | 授权 | 授权 |