一种晶片边缘检测系统

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202321499954.2

申请日：

2023-06-13

公开(公告)号：

CN220454532U

公开(公告)日：

2024-02-06

发明(设计)人：

张庆吴伟平

申请人：

广东长信精密设备有限公司

申请人地址：

511517 广东省清远市高新区百嘉工业园27-9号设备间

IPC主分类号：

G01B11/26

IPC分类号：

代理机构：

北京集佳知识产权代理有限公司 11227

代理人：

杨小红

法律状态：

授权

国省代码：

江苏省常州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-02-06	授权	授权

共 50 条

[1]

一种硅片边缘检测系统 [P].

刘玉乾 .

中国专利 :CN216411102U ,2022-04-29

[2]

一种晶片在位检测系统 [P].

李亮亮 .

中国专利 :CN209150053U ,2019-07-23

[3]

一种多功能晶片检测系统 [P].

张庆 ;

吴伟平 .

中国专利 :CN118293984A ,2024-07-05

[4]

晶片边缘画圈装置 [P].

刘五奎 .

中国专利 :CN207765413U ,2018-08-24

[5]

一种晶片边缘加工完整度检测装置 [P].

廖波 ;

林文杰 ;

李烨 .

中国专利 :CN203595503U ,2014-05-14

[6]

一种晶片边缘加工完整度检测装置 [P].

郑双喜 ;

宋新省 ;

刘勇 ;

陈江涛 .

中国专利 :CN215955234U ,2022-03-04

[7]

图像边缘检测系统 [P].

张庆辉 ;

万晨霞 .

中国专利 :CN207503284U ,2018-06-15

[8]

一种晶片边缘抛光装置 [P].

朱亮 ;

沈文杰 ;

谢龙辉 ;

谢永旭 ;

陈明 ;

倪少博 ;

张帅 ;

曹建伟 .

中国专利 :CN214979847U ,2021-12-03

[9]

一种医学图像的边缘检测系统 [P].

孔银昌 ;

王宝红 ;

庞建丽 ;

高丽娜 ;

陈中良 ;

李俊峰 .

中国专利 :CN202736125U ,2013-02-13

[10]

晶片检测系统和晶片检测方法 [P].

徐义 .

中国专利 :CN108878307B ,2018-11-23

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