芯片检测方法及芯片检测装置

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202110318085.8
申请日
2021-03-25
公开(公告)号
CN113075532A
公开(公告)日
2021-07-06
发明(设计)人
周舰波
申请人
申请人地址
230601 安徽省合肥市经济技术开发区空港工业园兴业大道388号
IPC主分类号
G01R3128
IPC分类号
G01R3152
代理机构
上海盈盛知识产权代理事务所(普通合伙) 31294
代理人
孙佳胤;陈丽丽
法律状态
公开
国省代码
引用
下载
收藏
共 50 条
[21]
芯片错料检测装置及检测方法、芯片烧录方法及烧录系统 [P]. 
任加华 ;
路晓东 ;
钱之政 ;
赵树磊 ;
刘上 ;
林大毅 .
中国专利 :CN105632556A ,2016-06-01
[22]
检测芯片及检测装置 [P]. 
王琛瑜 ;
张玙璠 ;
赵静 ;
孙玮婧 .
中国专利 :CN214599106U ,2021-11-05
[23]
DPCR芯片、制备方法、检测方法及检测装置 [P]. 
邓睿君 ;
丁丁 ;
刘祝凯 .
中国专利 :CN117467529A ,2024-01-30
[24]
芯片外观检测装置及芯片 [P]. 
周培松 ;
许燚赟 ;
张文昊 .
中国专利 :CN220872363U ,2024-04-30
[25]
芯片结构及芯片检测方法 [P]. 
李庆 ;
韦冬 ;
邢汝博 .
中国专利 :CN112582383B ,2021-03-30
[26]
芯片检测方法及装置 [P]. 
马娟 .
中国专利 :CN117747462A ,2024-03-22
[27]
芯片检测方法及装置 [P]. 
王瓒 ;
王聪 ;
余杨杰 ;
刘育衔 ;
杨国文 .
中国专利 :CN120445596A ,2025-08-08
[28]
芯片检测方法及装置 [P]. 
王瓒 ;
王聪 ;
余杨杰 ;
刘育衔 ;
杨国文 .
中国专利 :CN120445596B ,2025-09-02
[29]
分离检测芯片、分离检测装置及分离检测方法 [P]. 
陈欲超 .
中国专利 :CN112694969A ,2021-04-23
[30]
检测芯片、检测装置及制备和操作检测芯片的方法 [P]. 
胡立教 ;
张玙璠 ;
崔皓辰 ;
袁春根 ;
李婧 ;
申晓贺 ;
甘伟琼 .
中国专利 :CN115734818B ,2025-01-14