芯片检测方法及芯片检测装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110318085.8

申请日：

2021-03-25

公开(公告)号：

CN113075532A

公开(公告)日：

2021-07-06

发明(设计)人：

周舰波

申请人：

申请人地址：

230601 安徽省合肥市经济技术开发区空港工业园兴业大道388号

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

G01R3152

代理机构：

上海盈盛知识产权代理事务所(普通合伙) 31294

代理人：

孙佳胤;陈丽丽

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-07-06	公开	公开
2021-07-23	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20210325

共 50 条

[41]

芯片的检测装置与检测方法 [P].

施超 ;

李学宝 ;

陈中圆 ;

金锐 ;

崔翔 ;

李哲洋 ;

赵志斌 ;

李洪基 ;

王来利 ;

王跃 .

中国专利 :CN119178990A ,2024-12-24

[42]

芯片异常检测电路及芯片异常检测装置 [P].

黄笑宇 .

中国专利 :CN109143018A ,2019-01-04

[43]

凝胶芯片检测方法与检测装置 [P].

陆祖宏 ;

潘志强 ;

李燕强 ;

肖鹏峰 .

中国专利 :CN101074950A ,2007-11-21

[44]

芯片前端仿真检测方法及装置 [P].

赵治心 .

中国专利 :CN105487950A ,2016-04-13

[45]

一种芯片检测装置及芯片检测的方法 [P].

赵楚中 ;

吴淑娟 .

中国专利 :CN112113974A ,2020-12-22

[46]

一种检测芯片、检测装置及浓度检测方法 [P].

孟凡理 ;

陈江博 .

中国专利 :CN118730986A ,2024-10-01

[47]

核酸检测芯片及检测方法 [P].

张立新 ;

王慧锋 ;

顾震 ;

刘光 ;

颜秉勇 ;

黄术强 ;

田晓丽 ;

黄高健 ;

刘家坤 ;

韩照晰 .

中国专利 :CN111704994A ,2020-09-25

[48]

检测集成芯片及检测方法 [P].

王战会 ;

陈坦 .

中国专利 :CN102580797A ,2012-07-18

[49]

多反应器分析芯片检测方法和分析芯片及检测装置 [P].

邹方霖 ;

陈春生 ;

王建霞 .

中国专利 :CN1648671B ,2005-08-03

[50]

芯片检测系统及检测方法 [P].

潘咏民 .

中国专利 :CN108686967A ,2018-10-23

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