等离子体蚀刻方法和等离子体蚀刻装置

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专利类型
发明
申请号
CN201380036784.7
申请日
2013-08-05
公开(公告)号
CN104471686A
公开(公告)日
2015-03-25
发明(设计)人
吉田亮一 石井孝幸 小林宪
申请人
申请人地址
日本东京都
IPC主分类号
H01L213065
IPC分类号
代理机构
北京尚诚知识产权代理有限公司 11322
代理人
龙淳
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
等离子体蚀刻方法和等离子体蚀刻装置 [P]. 
宇田秀一郎 ;
平山祐介 .
中国专利 :CN101521158B ,2009-09-02
[2]
等离子体蚀刻方法和等离子体蚀刻装置 [P]. 
松山昇一郎 ;
本田昌伸 .
中国专利 :CN101609799B ,2009-12-23
[3]
等离子体蚀刻方法和等离子体蚀刻装置 [P]. 
李诚泰 ;
小笠原正宏 ;
佐佐木淳一 ;
柳田直人 .
中国专利 :CN102194686A ,2011-09-21
[4]
等离子体蚀刻装置和等离子体蚀刻方法 [P]. 
松本直树 ;
田中秀朗 ;
藤原尚 ;
舆水地盐 ;
小岩史明 ;
小林俊之 ;
仲山阳一 ;
中村博 .
中国专利 :CN100591190C ,2006-10-04
[5]
等离子体蚀刻方法和等离子体蚀刻装置 [P]. 
久松亨 ;
本田昌伸 .
中国专利 :CN105097489A ,2015-11-25
[6]
等离子体蚀刻方法和等离子体蚀刻装置 [P]. 
穆罕默德·菲依鲁斯·宾布迪曼 ;
辻本宏 .
中国专利 :CN111801776A ,2020-10-20
[7]
等离子体蚀刻方法和等离子体蚀刻装置 [P]. 
八田浩一 ;
前川薫 ;
佐藤渚 ;
大野久美子 ;
田原慈 ;
雅各·法盖 ;
雷米·杜萨特 ;
托马斯·蒂洛彻 ;
菲利普·勒福舍 ;
盖尔·安托万 .
中国专利 :CN111527591A ,2020-08-11
[8]
等离子体蚀刻方法和等离子体蚀刻装置 [P]. 
北垣内圭二 ;
小林史弥 ;
户村幕树 .
中国专利 :CN110729187A ,2020-01-24
[9]
等离子体蚀刻方法和等离子体蚀刻装置 [P]. 
后平拓 ;
箕浦佑也 .
中国专利 :CN110164764A ,2019-08-23
[10]
等离子体蚀刻装置和等离子体蚀刻方法 [P]. 
田中聪志 .
中国专利 :CN111755357A ,2020-10-09