半导体封装制造方法及半导体器件

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN200710165691.0
申请日
2007-10-31
公开(公告)号
CN101174571A
公开(公告)日
2008-05-07
发明(设计)人
千硕杓 金炅吾
申请人
申请人地址
韩国京畿道城南市
IPC主分类号
H01L2150
IPC分类号
H01L2160 H01L2156 H01L23488 H01L2131
代理机构
北京同立钧成知识产权代理有限公司
代理人
臧建明
法律状态
专利权的终止
国省代码
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共 50 条
[1]
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[10]
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