多晶硅薄膜检查方法及其装置

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201210156664.8
申请日
2012-05-18
公开(公告)号
CN102788805A
公开(公告)日
2012-11-21
发明(设计)人
吉武康裕 山口清美 岩井进
申请人
申请人地址
日本东京都
IPC主分类号
G01N21896
IPC分类号
代理机构
北京银龙知识产权代理有限公司 11243
代理人
许静;郭凤麟
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
多晶硅薄膜检查方法及其装置 [P]. 
岩井进 ;
村松刚 ;
荒木正树 ;
山口清美 .
中国专利 :CN102446784A ,2012-05-09
[2]
多晶硅薄膜检查方法及其装置 [P]. 
岩井进 ;
吉武康裕 ;
村松刚 .
中国专利 :CN102192908A ,2011-09-21
[3]
多晶硅薄膜 [P]. 
李媛 ;
吴兴坤 ;
郝芳 ;
杨晗琼 .
中国专利 :CN202058744U ,2011-11-30
[4]
多晶硅薄膜 [P]. 
赵淑云 ;
郭海成 ;
王文 .
中国专利 :CN102956678A ,2013-03-06
[5]
多晶硅薄膜成膜方法 [P]. 
袁宿陵 .
中国专利 :CN111653474A ,2020-09-11
[6]
多晶硅薄膜及其形成方法 [P]. 
谢博文 ;
施剑华 .
中国专利 :CN115012032A ,2022-09-06
[7]
低温多晶硅薄膜及其制备方法、低温多晶硅薄膜晶体管 [P]. 
葛泳 ;
刘玉成 ;
朱涛 ;
顾维杰 .
中国专利 :CN104362084A ,2015-02-18
[8]
低温多晶硅薄膜的制作方法、低温多晶硅薄膜及低温多晶硅TFT基板 [P]. 
张瑞军 ;
卢马才 ;
王松 .
中国专利 :CN108831894A ,2018-11-16
[9]
一种多晶硅薄膜制作方法及多晶硅薄膜 [P]. 
任庆荣 ;
李良坚 ;
刘政 .
中国专利 :CN107017153A ,2017-08-04
[10]
一种多晶硅薄膜的制备方法及多晶硅薄膜 [P]. 
高超飞 ;
葛晶涛 ;
刘旭亮 ;
沈文涛 ;
张明照 .
中国专利 :CN108878272A ,2018-11-23