加工半导体晶圆的方法、清洗方法及加工系统

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专利类型
发明
申请号
CN201811276372.1
申请日
2018-10-30
公开(公告)号
CN109794845A
公开(公告)日
2019-05-24
发明(设计)人
彭至亿 叶修铭 刘易昌
申请人
申请人地址
中国台湾新竹市
IPC主分类号
B24B3710
IPC分类号
H01L21306 H01L2102
代理机构
隆天知识产权代理有限公司 72003
代理人
黄艳
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
半导体晶圆加工系统及加工半导体晶圆的方法 [P]. 
苏奕龙 ;
廖见桂 ;
李荣伟 .
中国专利 :CN109817545A ,2019-05-28
[2]
半导体晶圆表面加工方法 [P]. 
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张延瑜 .
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[3]
半导体晶圆支撑装置、加工系统及半导体晶圆转移方法 [P]. 
刘思杰 ;
邱哲夫 ;
王宝明 ;
聂俊峰 ;
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[4]
半导体晶圆加工方法、系统及系统的清洁方法 [P]. 
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卢玟铵 ;
郭爵旗 ;
许哲彰 ;
周佳信 ;
傅中其 ;
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郑博中 .
中国专利 :CN109524286B ,2019-03-26
[5]
半导体加工机台、半导体加工系统及晶圆搬运方法 [P]. 
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[6]
半导体晶圆加工方法 [P]. 
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[7]
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[8]
加工半导体晶圆的方法 [P]. 
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[9]
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杨京 ;
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[10]
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