总线通信芯片老化测试装置

被引：0

申请号：

CN202110504490.9

申请日：

2021-05-10

公开(公告)号：

CN115327338A

公开(公告)日：

2022-11-11

发明(设计)人：

曹佶赵宝忠

申请人：

申请人地址：

311200 浙江省杭州市萧山区经济技术开发区启迪路198号B1-3-067室

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

代理人：

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-11-11	公开	公开
2022-11-29	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20210510

共 50 条

[1]

芯片老化测试装置 [P].

刘冬喜 ;

陈宽勇 .

中国专利 :CN307276790S ,2022-04-19

[2]

芯片老化测试装置 [P].

袁飞 ;

杨晓君 ;

柳胜杰 ;

史久聪 ;

陈华玉 .

中国专利 :CN223611649U ,2025-11-28

[3]

芯片老化测试装置 [P].

郭航旗 ;

请求不公布姓名 ;

张敦凯 ;

请求不公布姓名 ;

薛阿强 ;

陈宗熙 ;

郑颖彬 ;

李国军 ;

张文宗 .

中国专利 :CN222850709U ,2025-05-09

[4]

芯片老化测试装置 [P].

张洪利 .

中国专利 :CN221326691U ,2024-07-12

[5]

芯片老化测试装置及芯片老化测试方法 [P].

王强 ;

金云飞 .

中国专利 :CN120178009B ,2025-08-22

[6]

芯片老化测试装置及芯片老化测试方法 [P].

王强 ;

金云飞 .

中国专利 :CN120178009A ,2025-06-20

[7]

eMCP芯片老化测试装置及其测试方法 [P].

刘孜 ;

谢登煌 .

中国专利 :CN119763649B ,2025-08-05

[8]

eMCP芯片老化测试装置及其测试方法 [P].

刘孜 ;

谢登煌 .

中国专利 :CN119763649A ,2025-04-04

[9]

CAN总线的老化测试装置 [P].

余丽华 .

中国专利 :CN202661593U ,2013-01-09

[10]

LED芯片老化测试装置 [P].

魏晓敏 .

中国专利 :CN206038837U ,2017-03-22

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