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扩大接触孔刻蚀工艺窗口的方法
被引:0
申请号
:
CN202211397514.6
申请日
:
2022-11-09
公开(公告)号
:
CN115662947A
公开(公告)日
:
2023-01-31
发明(设计)人
:
卓红标
刘春玲
申请人
:
申请人地址
:
201203 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区祖冲之路1399号
IPC主分类号
:
H01L21768
IPC分类号
:
H01L2102
H01L21311
代理机构
:
上海浦一知识产权代理有限公司 31211
代理人
:
刘昌荣
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2023-02-17
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/768 申请日:20221109
2023-01-31
公开
公开
共 50 条
[1]
改善金属栅接触孔刻蚀工艺窗口的方法
[P].
杨作东
论文数:
0
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0
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0
杨作东
;
彭翔
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彭翔
;
邹海华
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邹海华
.
中国专利
:CN114695253A
,2022-07-01
[2]
改善金属栅接触孔刻蚀工艺窗口的方法
[P].
杨作东
论文数:
0
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0
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机构:
上海华力集成电路制造有限公司
上海华力集成电路制造有限公司
杨作东
;
彭翔
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机构:
上海华力集成电路制造有限公司
上海华力集成电路制造有限公司
彭翔
;
邹海华
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0
机构:
上海华力集成电路制造有限公司
上海华力集成电路制造有限公司
邹海华
.
中国专利
:CN114695253B
,2025-07-22
[3]
改善硅接触孔刻蚀工艺窗口的方法
[P].
刘俊
论文数:
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0
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0
刘俊
.
中国专利
:CN103137548A
,2013-06-05
[4]
接触孔的刻蚀工艺方法
[P].
梁金娥
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梁金娥
;
奚裴
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奚裴
;
冯凯
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冯凯
;
王函
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王函
;
程刘锁
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0
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程刘锁
.
中国专利
:CN111128871B
,2020-05-08
[5]
接触孔的刻蚀方法
[P].
张文文
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机构:
华虹半导体(无锡)有限公司
华虹半导体(无锡)有限公司
张文文
;
丁佳
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机构:
华虹半导体(无锡)有限公司
华虹半导体(无锡)有限公司
丁佳
;
王玉新
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机构:
华虹半导体(无锡)有限公司
华虹半导体(无锡)有限公司
王玉新
;
陈志远
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机构:
华虹半导体(无锡)有限公司
华虹半导体(无锡)有限公司
陈志远
;
张淑婷
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机构:
华虹半导体(无锡)有限公司
华虹半导体(无锡)有限公司
张淑婷
.
中国专利
:CN118156220A
,2024-06-07
[6]
接触孔的刻蚀方法
[P].
吴敏
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吴敏
;
杨渝书
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杨渝书
;
李程
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李程
.
中国专利
:CN103400799B
,2013-11-20
[7]
接触孔的刻蚀方法
[P].
施洋
论文数:
0
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施洋
.
中国专利
:CN107808822A
,2018-03-16
[8]
接触孔刻蚀方法
[P].
李程
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李程
;
吴敏
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吴敏
;
杨渝书
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杨渝书
.
中国专利
:CN103681477A
,2014-03-26
[9]
改善接触孔过刻蚀的方法
[P].
张方方
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张方方
;
贺可强
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贺可强
;
张磊
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张磊
;
陈昊瑜
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陈昊瑜
.
中国专利
:CN115000008A
,2022-09-02
[10]
改善接触孔过刻蚀的方法
[P].
张方方
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机构:
上海华力集成电路制造有限公司
上海华力集成电路制造有限公司
张方方
;
贺可强
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机构:
上海华力集成电路制造有限公司
上海华力集成电路制造有限公司
贺可强
;
张磊
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机构:
上海华力集成电路制造有限公司
上海华力集成电路制造有限公司
张磊
;
陈昊瑜
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机构:
上海华力集成电路制造有限公司
上海华力集成电路制造有限公司
陈昊瑜
.
中国专利
:CN115000008B
,2025-07-18
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