一种高精度半导体检测机构

被引：0

申请号：

CN202222287866.8

申请日：

2022-08-30

公开(公告)号：

CN218180923U

公开(公告)日：

2022-12-30

发明(设计)人：

董建军苏瑞

申请人：

申请人地址：

215000 江苏省苏州市吴中区木渎镇金枫南路1258号7幢101室

IPC主分类号：

G01R104

IPC分类号：

G01R3126 H02P500

代理机构：

南京纵横知识产权代理有限公司 32224

代理人：

孙永生

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-12-30	授权	授权

共 50 条

[1]

一种半导体检测高精度检测平台 [P].

李涛 ;

刘利 .

中国专利 :CN218068200U ,2022-12-16

[2]

一种高精度小型半导体检测平台 [P].

孙孟祥 ;

蔡东 ;

许锦铭 .

中国专利 :CN218068197U ,2022-12-16

[3]

一种半导体检测用高精度Chuck吸盘 [P].

张亚琼 .

中国专利 :CN223575568U ,2025-11-21

[4]

一种半导体检测工装 [P].

罗宏 .

中国专利 :CN223532310U ,2025-11-11

[5]

一种半导体检测设备 [P].

林思源 ;

王炅鑫 ;

黄钰荀 .

中国专利 :CN205880142U ,2017-01-11

[6]

半导体检测结构 [P].

廖育德 ;

蔡甦谷 .

中国专利 :CN205984977U ,2017-02-22

[7]

一种半导体加工用高精度检测设备 [P].

不公告发明人 .

中国专利 :CN214470649U ,2021-10-22

[8]

一种用于半导体检测的检测台 [P].

杨斌 ;

黄峰荣 ;

何秋生 .

中国专利 :CN217879326U ,2022-11-22

[9]

一种半导体检测用探针平台 [P].

李云峰 .

中国专利 :CN214895454U ,2021-11-26

[10]

一种多通道半导体检测设备 [P].

王丹平 ;

袁中平 ;

宋丹丹 .

中国专利 :CN222966093U ,2025-06-10

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