一种用于多通道宇航器件单粒子效应的测试系统

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201120367060.9

申请日：

2011-09-29

公开(公告)号：

CN202256531U

公开(公告)日：

2012-05-30

发明(设计)人：

杜守刚于春青杨晓飞范隆董攀郑宏超王煌伟陈莉明毕潇

申请人：

申请人地址：

100076 北京市丰台区东高地四营门北路2号

IPC主分类号：

G01R3100

IPC分类号：

代理机构：

中国航天科技专利中心 11009

代理人：

臧春喜

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2012-05-30	授权	授权
2020-09-18	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 31/00 申请日:20110929 授权公告日:20120530 终止日期:20190929

共 50 条

[1]

用于VDMOS器件单粒子效应测试的自闭环系统 [P].

程利甫 ;

李小磊 ;

徐国庆 ;

刘博 ;

张丽娜 .

中国专利 :CN115639452A ,2023-01-24

[2]

一种SRAM器件单粒子闭锁效应测试系统及方法 [P].

姚志斌 ;

张凤祁 ;

郭红霞 ;

何宝平 ;

罗尹虹 ;

赵雯 ;

丁李利 ;

王艳萍 ;

肖尧 ;

王园明 ;

张科营 ;

王伟 .

中国专利 :CN103165192B ,2013-06-19

[3]

一种用于单粒子效应检测的多通道高速数据传输系统 [P].

董攀 ;

陈莉明 ;

范隆 ;

郑宏超 ;

岳素格 ;

马建华 ;

陈茂鑫 ;

文圣泉 ;

杜守刚 ;

王煌伟 ;

毕潇 .

中国专利 :CN103037020A ,2013-04-10

[4]

一种基于FPGA的NAND FLASH器件单粒子效应测试系统 [P].

薛玉雄 ;

安恒 ;

杨生胜 ;

王德坤 ;

曹洲 ;

把得东 ;

石红 ;

汤道坦 ;

李存惠 .

中国专利 :CN102332310B ,2012-01-25

[5]

一种存储器件多工位单粒子效应通用测试系统、方法及电子设备 [P].

孙海晶 .

中国专利 :CN120340585A ,2025-07-18

[6]

一种单粒子效应测试方法及测试系统 [P].

张弛 ;

陈朝晖 ;

刘玮 ;

丁晓兵 ;

余江 ;

徐鹏 ;

田得良 ;

郑茂然 ;

陆明 ;

张静伟 ;

陈旭 ;

刘千宽 ;

李捷 ;

甘卿忠 ;

黄智华 .

中国专利 :CN117420417A ,2024-01-19

[7]

一种SiP器件的单粒子效应测试通用方法 [P].

梅博 ;

吕贺 ;

张洪伟 ;

孙毅 ;

薛玉雄 ;

曹荣幸 ;

张涛 .

中国专利 :CN119165339A ,2024-12-20

[8]

一种倒封装器件单粒子效应测试方法、系统、设备和介质 [P].

赵培雄 ;

刘杰 ;

孙友梅 ;

闫晓宇 ;

杨金虎 .

中国专利 :CN115356610A ,2022-11-18

[9]

一种高压功率器件单粒子效应批量化测试方法及系统 [P].

张峥 ;

郭刚 ;

陈启明 ;

孙浩瀚 ;

刘建成 ;

韩金华 ;

张艳文 ;

张付强 ;

殷倩 ;

隋丽 ;

赵树勇 ;

刘翠翠 ;

马旭 ;

李理 .

中国专利 :CN118914789A ,2024-11-08

[10]

一种单粒子效应自动化测试系统 [P].

刘金国 ;

李振新 ;

李正 ;

刘晓源 ;

张广兴 .

中国专利 :CN109782102A ,2019-05-21

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