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高击穿电压的高电子迁移率晶体管
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN200410046387.0
申请日
:
2004-06-08
公开(公告)号
:
CN100342547C
公开(公告)日
:
2005-12-14
发明(设计)人
:
徐晓华
倪海桥
牛智川
贺正宏
王建林
申请人
:
申请人地址
:
100083北京市海淀区清华东路甲35号
IPC主分类号
:
H01L29772
IPC分类号
:
H01L29778
H01L2980
代理机构
:
中科专利商标代理有限责任公司
代理人
:
汤保平
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
引用
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2006-02-08
实质审查的生效
实质审查的生效
2009-08-12
专利权的终止(未缴年费专利权终止)
专利权的终止(未缴年费专利权终止)
2005-12-14
公开
公开
2007-10-10
授权
授权
共 50 条
[1]
高电子迁移率晶体管
[P].
刘柏均
论文数:
0
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刘柏均
;
喻中一
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喻中一
;
陈祈铭
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陈祈铭
;
江振豪
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江振豪
.
中国专利
:CN103943674A
,2014-07-23
[2]
高电子迁移率晶体管
[P].
刘柏均
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刘柏均
;
喻中一
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喻中一
;
陈祈铭
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陈祈铭
;
江振豪
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江振豪
.
中国专利
:CN110277446A
,2019-09-24
[3]
平面高电子迁移率晶体管
[P].
周翔
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周翔
.
中国专利
:CN114664943A
,2022-06-24
[4]
高电子迁移率晶体管
[P].
乔夫·德卢伊
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机构:
埃皮根股份有限公司
埃皮根股份有限公司
乔夫·德卢伊
.
:CN110754002B
,2024-03-19
[5]
高电子迁移率晶体管
[P].
杨伟臣
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机构:
英属开曼群岛商海珀电子股份有限公司
英属开曼群岛商海珀电子股份有限公司
杨伟臣
;
何伟志
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机构:
英属开曼群岛商海珀电子股份有限公司
英属开曼群岛商海珀电子股份有限公司
何伟志
.
中国专利
:CN120111925A
,2025-06-06
[6]
高电子迁移率晶体管
[P].
张进成
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张进成
;
付小凡
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付小凡
;
郝跃
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郝跃
;
马晓华
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马晓华
;
王冲
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王冲
;
陈珂
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陈珂
;
马俊彩
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马俊彩
;
刘子扬
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刘子扬
;
林志宇
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林志宇
;
张凯
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张凯
.
中国专利
:CN102130159A
,2011-07-20
[7]
高电子迁移率晶体管
[P].
刘梅
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刘梅
.
中国专利
:CN109560129A
,2019-04-02
[8]
高电子迁移率晶体管
[P].
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机构:
张韵
;
何佳恒
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机构:
中国科学院半导体研究所
中国科学院半导体研究所
何佳恒
;
论文数:
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机构:
张连
.
中国专利
:CN120018544A
,2025-05-16
[9]
高电子迁移率晶体管
[P].
乔夫·德卢伊
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乔夫·德卢伊
.
中国专利
:CN110754002A
,2020-02-04
[10]
高电子迁移率晶体管
[P].
魏星
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魏星
;
王中健
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王中健
;
狄增峰
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狄增峰
;
方子韦
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方子韦
.
中国专利
:CN103745989B
,2014-04-23
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