使用带电粒子显微镜检查样品的方法

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专利类型
发明
申请号
CN201910766415.2
申请日
2019-08-19
公开(公告)号
CN110849926A
公开(公告)日
2020-02-28
发明(设计)人
T.图玛 J.赫拉迪尔 P.赫拉文卡
申请人
申请人地址
美国俄勒冈州
IPC主分类号
G01N232206
IPC分类号
G01N23046
代理机构
中国专利代理(香港)有限公司 72001
代理人
张凌苗;闫小龙
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
使用带电粒子显微镜检查样品的方法 [P]. 
T.图玛 ;
J.赫拉迪尔 ;
P.赫拉文卡 .
美国专利 :CN110849926B ,2025-02-14
[2]
使用带电粒子显微镜检查样品的方法 [P]. 
J.克卢萨切克 ;
T.图玛 ;
J.彼得雷克 .
中国专利 :CN112098440A ,2020-12-18
[3]
使用带电粒子显微镜检查样品的方法 [P]. 
J.克卢萨切克 ;
T.图玛 ;
J.佩特热克 .
中国专利 :CN111896572A ,2020-11-06
[4]
使用带电粒子显微镜检查样品的方法 [P]. 
J.克卢萨切克 ;
T.图玛 ;
J.彼得雷克 .
美国专利 :CN112098440B ,2024-08-13
[5]
使用带电粒子显微镜检查样品的方法 [P]. 
J.克卢萨切克 ;
T.图玛 ;
J.佩特热克 .
美国专利 :CN111896572B ,2024-12-17
[6]
使用带电粒子显微镜检查样品的方法 [P]. 
T·图玛 ;
J·克卢萨切克 ;
J·派特雷克 .
中国专利 :CN112394076A ,2021-02-23
[7]
使用带电粒子显微镜检查样品的方法 [P]. 
J.克卢萨切克 ;
T.图玛 .
中国专利 :CN111982938A ,2020-11-24
[8]
使用带电粒子显微镜检查样品的方法 [P]. 
J.克卢萨切克 ;
T.图玛 .
美国专利 :CN111982938B ,2024-06-04
[9]
使用带电粒子显微镜检查样品的方法 [P]. 
J·克卢塞克 ;
P·赫拉文卡 ;
M·瓦纳特卡 ;
O·瓦维尔卡 .
美国专利 :CN117438268A ,2024-01-23
[10]
使用带电粒子显微镜检查样品的方法 [P]. 
J.克卢萨切克 ;
T.图玛 .
美国专利 :CN111982938B9 ,2024-07-02