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反射光学元件和立体相机装置
被引:0
申请号
:
CN202210659545.8
申请日
:
2018-08-22
公开(公告)号
:
CN114994815A
公开(公告)日
:
2022-09-02
发明(设计)人
:
杉浦嘉则
细川胜元
久保裕之
申请人
:
申请人地址
:
日本东京
IPC主分类号
:
G02B510
IPC分类号
:
G02B1706
G03B1717
G03B3000
B32B1500
B32B1504
B32B15085
B32B2732
B32B3300
B32B2706
代理机构
:
中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038
代理人
:
贾金岩
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
引用
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-09-20
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G02B 5/10 申请日:20180822
2022-09-02
公开
公开
共 50 条
[11]
反射光学元件、投射系统和投射曝光设备
[P].
汉斯-于尔根.曼
论文数:
0
引用数:
0
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0
汉斯-于尔根.曼
.
中国专利
:CN102193121B
,2011-09-21
[12]
包含反射光学元件的波导设计
[P].
卢比·查特
论文数:
0
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0
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卢比·查特
;
本杰明·科尼什
论文数:
0
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0
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本杰明·科尼什
;
巴里·卢瑟-戴维斯
论文数:
0
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巴里·卢瑟-戴维斯
;
达克斯·库库尔加
论文数:
0
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达克斯·库库尔加
;
格拉哈姆·阿特金斯
论文数:
0
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0
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格拉哈姆·阿特金斯
.
中国专利
:CN101194222A
,2008-06-04
[13]
用于辐射束的反射光学元件
[P].
R·M·霍夫斯特拉
论文数:
0
引用数:
0
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机构:
ASML荷兰有限公司
ASML荷兰有限公司
R·M·霍夫斯特拉
;
A·S·特奇科夫
论文数:
0
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0
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机构:
ASML荷兰有限公司
ASML荷兰有限公司
A·S·特奇科夫
;
F·C·D·德纳维尔
论文数:
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机构:
ASML荷兰有限公司
ASML荷兰有限公司
F·C·D·德纳维尔
;
G·H·P·M·斯温凯尔斯
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机构:
ASML荷兰有限公司
ASML荷兰有限公司
G·H·P·M·斯温凯尔斯
;
P·A·T·M·瑞吉斯
论文数:
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机构:
ASML荷兰有限公司
ASML荷兰有限公司
P·A·T·M·瑞吉斯
.
:CN112020674B
,2024-08-06
[14]
用于辐射束的反射光学元件
[P].
R·M·霍夫斯特拉
论文数:
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R·M·霍夫斯特拉
;
A·S·特奇科夫
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A·S·特奇科夫
;
F·C·D·德纳维尔
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F·C·D·德纳维尔
;
G·H·P·M·斯温凯尔斯
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G·H·P·M·斯温凯尔斯
;
P·A·T·M·瑞吉斯
论文数:
0
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P·A·T·M·瑞吉斯
.
中国专利
:CN112020674A
,2020-12-01
[15]
反射光学元件和用于极紫外光刻的光学系统
[P].
D.H.埃姆
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0
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D.H.埃姆
;
P.休伯
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P.休伯
;
S.米兰德
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0
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0
S.米兰德
;
G.冯布兰肯哈根
论文数:
0
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0
G.冯布兰肯哈根
.
中国专利
:CN103547945B
,2014-01-29
[16]
制作用于光学元件的基板的方法以及反射光学元件
[P].
A.施梅尔
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0
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A.施梅尔
;
H.西克曼
论文数:
0
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0
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0
H.西克曼
.
中国专利
:CN112189064A
,2021-01-05
[17]
反射光学元件、射束引导装置和EUV辐射产生装置
[P].
M·兰贝特
论文数:
0
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M·兰贝特
;
T·埃尔金
论文数:
0
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0
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0
T·埃尔金
.
中国专利
:CN112166369A
,2021-01-01
[18]
具有高刚度基材的反射光学元件
[P].
J·S·萨瑟兰
论文数:
0
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J·S·萨瑟兰
;
L·G·万博尔特
论文数:
0
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0
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L·G·万博尔特
;
K·S·伍达得
论文数:
0
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0
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K·S·伍达得
.
中国专利
:CN108780161A
,2018-11-09
[19]
形成了中空部的反射光学元件及扫描光学装置
[P].
原新一朗
论文数:
0
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0
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原新一朗
;
金子直树
论文数:
0
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0
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金子直树
;
高木宽司
论文数:
0
引用数:
0
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高木宽司
.
中国专利
:CN102356336B
,2012-02-15
[20]
反射光学元件和用于操作EUV光刻设备的方法
[P].
D.H.埃姆
论文数:
0
引用数:
0
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D.H.埃姆
;
A.多科纳尔
论文数:
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A.多科纳尔
;
G.冯布兰肯哈根
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0
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0
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0
G.冯布兰肯哈根
.
中国专利
:CN102576196A
,2012-07-11
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