半导体基板的处理方法和半导体基板的处理装置

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专利类型
发明
申请号
CN201880008160.7
申请日
2018-01-16
公开(公告)号
CN110199379A
公开(公告)日
2019-09-03
发明(设计)人
清田健司 福冈哲夫
申请人
申请人地址
日本东京都
IPC主分类号
H01L21304
IPC分类号
代理机构
北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277
代理人
刘新宇
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
半导体基板装置、半导体处理方法以及半导体处理装置 [P]. 
金昶振 .
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郭光扬 ;
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[3]
气环、半导体基板处理装置及半导体基板处理方法 [P]. 
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田中义伸 ;
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[4]
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[5]
半导体基板处理装置、剥离方法和半导体装置的制造方法 [P]. 
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[6]
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金起莹 ;
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[7]
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福原升 ;
山田永 ;
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中国专利 :CN102239549B ,2011-11-09
[8]
半导体装置、半导体装置的制造方法、半导体基板、和半导体基板的制造方法 [P]. 
秦雅彦 ;
福原升 ;
山田永 ;
高木信一 ;
杉山正和 ;
竹中充 ;
安田哲二 ;
宫田典幸 ;
板谷太郎 ;
石井裕之 ;
大竹晃浩 ;
奈良纯 .
中国专利 :CN103474354A ,2013-12-25
[9]
半导体基板和半导体基板的制造方法 [P]. 
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小林元树 ;
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河原孝光 ;
八田直记 ;
南章行 ;
坂田丰和 ;
牧野友厚 ;
加藤光治 .
中国专利 :CN106489187A ,2017-03-08
[10]
半导体基板的制造方法和半导体基板 [P]. 
黄杰 ;
宁策 ;
李正亮 ;
胡合合 ;
贺家煜 ;
姚念琦 ;
赵坤 ;
曲峰 ;
许晓春 .
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