半导体晶片兆声清洗装置

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN201721700739.9
申请日
2017-12-08
公开(公告)号
CN207602528U
公开(公告)日
2018-07-10
发明(设计)人
李晓岚 王阳 孙聂枫 刘惠生 孙同年
申请人
申请人地址
050000 河北省石家庄市合作路113号
IPC主分类号
H01L2167
IPC分类号
B08B702
代理机构
石家庄众志华清知识产权事务所(特殊普通合伙) 13123
代理人
王苑祥
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
半导体晶片兆声清洗装置 [P]. 
李晓岚 ;
王阳 ;
孙聂枫 ;
刘惠生 ;
孙同年 .
中国专利 :CN108364884A ,2018-08-03
[2]
一种避免表面损伤的半导体晶片用兆声清洗装置 [P]. 
顾雪平 ;
时新宇 .
中国专利 :CN115254781B ,2023-01-13
[3]
半导体晶片清洗装置 [P]. 
马祖光 ;
郭光辉 .
中国专利 :CN208923038U ,2019-05-31
[4]
半导体晶片清洗装置 [P]. 
陈海 ;
顾正龙 .
中国专利 :CN210722959U ,2020-06-09
[5]
半导体晶片清洗装置 [P]. 
韩石彬 .
中国专利 :CN1156901A ,1997-08-13
[6]
半导体晶片清洗夹具 [P]. 
任殿胜 .
中国专利 :CN215266247U ,2021-12-21
[7]
半导体晶片清洗装置 [P]. 
韩石彬 .
中国专利 :CN1083153C ,1997-08-13
[8]
半导体晶片清洗装置 [P]. 
韩石彬 .
中国专利 :CN1118865C ,1997-11-05
[9]
一种半导体晶片的清洗装置 [P]. 
李杰 ;
殷军伟 .
中国专利 :CN220461579U ,2024-02-09
[10]
半导体晶片的清洗装置以及半导体晶片的清洗方法 [P]. 
野田魁人 ;
大久保知洋 ;
中尾勇贵 ;
富田迪彦 .
中国专利 :CN114902379A ,2022-08-12