曝光装置的检查方法

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专利类型
发明
申请号
CN200710096417.2
申请日
2003-08-28
公开(公告)号
CN101063827A
公开(公告)日
2007-10-31
发明(设计)人
福原和也 井上壮一
申请人
申请人地址
日本东京都
IPC主分类号
G03F720
IPC分类号
G03F100 H01L21027
代理机构
北京市中咨律师事务所
代理人
段承恩;杨光军
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
曝光装置及检查方法 [P]. 
加藤正纪 ;
水野仁 ;
水野恭志 .
日本专利 :CN117581163A ,2024-02-20
[2]
曝光装置及曝光方法 [P]. 
熊泽雅人 .
中国专利 :CN105652609A ,2016-06-08
[3]
曝光装置 [P]. 
福原和也 ;
井上壮一 .
中国专利 :CN100414438C ,2004-04-14
[4]
曝光装置、曝光方法和物品制造方法 [P]. 
铃木敢士 ;
八讲学 .
日本专利 :CN113759666B ,2024-09-13
[5]
曝光装置、曝光方法和物品制造方法 [P]. 
铃木敢士 ;
八讲学 .
中国专利 :CN113759666A ,2021-12-07
[6]
曝光装置的投影光学系统的性能检查方法和检查用光掩模 [P]. 
福原和也 ;
田中聪 ;
井上壮一 .
中国专利 :CN1288508C ,2004-05-05
[7]
曝光装置用曝光头、曝光装置以及曝光方法 [P]. 
奥山隆志 .
日本专利 :CN118689042A ,2024-09-24
[8]
曝光方法及曝光装置 [P]. 
李煜芝 ;
戴文斌 ;
张民山 ;
蓝科 ;
周畅 .
中国专利 :CN118092085B ,2025-04-25
[9]
曝光装置和曝光方法 [P]. 
三宅健 ;
高木俊博 .
中国专利 :CN102063020A ,2011-05-18
[10]
曝光装置及曝光方法 [P]. 
豊田光纪 ;
谷津修 ;
竹内裕一郎 ;
蛭川茂 ;
诹访恭一 ;
中岛利治 .
中国专利 :CN1407408A ,2003-04-02