一种半导体蚀刻设备

被引:0
申请号
CN202220721882.0
申请日
2022-03-30
公开(公告)号
CN216957960U
公开(公告)日
2022-07-12
发明(设计)人
聂国勇 陈仁华 李建立
申请人
申请人地址
410001 湖南省长沙市高新开发区麓松路789号工业厂房一楼
IPC主分类号
H01L21306
IPC分类号
H01L2167
代理机构
长沙优企知识产权代理事务所(普通合伙) 43243
代理人
刘佳芳
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种半导体蚀刻设备 [P]. 
张霖芝 ;
眭朝萍 ;
田帅 .
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[2]
一种连续式半导体蚀刻设备 [P]. 
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[3]
一种半导体蚀刻设备 [P]. 
吕兆辉 ;
黄杰 ;
冯峰 ;
卢刚 ;
王禹 .
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[4]
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[5]
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黄斌 ;
唐世辉 ;
李世春 ;
宋佳骏 ;
雷洋 .
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[6]
半导体蚀刻设备 [P]. 
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[7]
半导体蚀刻设备 [P]. 
姜东勋 .
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[8]
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[9]
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陈仁华 ;
聂国勇 .
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[10]
一种基于半导体加工的蚀刻设备及方法 [P]. 
高鑫 ;
金晓强 .
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