电子元件测试模块的启闭装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201420526759.9

申请日：

2014-09-12

公开(公告)号：

CN204065166U

公开(公告)日：

2014-12-31

发明(设计)人：

郑炜彦赖正鑫陈奂维陈彦玮李政勋

申请人：

申请人地址：

中国台湾台中市

IPC主分类号：

G01R104

IPC分类号：

代理机构：

北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 11139

代理人：

孙皓晨

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2014-12-31	授权	授权
2022-08-26	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 1/04 申请日:20140912 授权公告日:20141231 终止日期:20210912

共 50 条

[1]

电子元件测试模组的启闭装置 [P].

郑炜彦 ;

赖正鑫 ;

陈奂维 ;

陈彦玮 ;

李政勋 .

中国专利 :CN204166008U ,2015-02-18

[2]

电子元件测试模组的启闭装置 [P].

郑炜彦 ;

赖正鑫 ;

陈奂维 ;

陈彦玮 ;

李政勋 .

中国专利 :CN204142761U ,2015-02-04

[3]

电子元件的测试装置 [P].

王士伟 .

中国专利 :CN2512113Y ,2002-09-18

[4]

电子元件测试装置 [P].

张峰 .

中国专利 :CN207164175U ,2018-03-30

[5]

电子元件测试装置 [P].

徐铭阳 ;

胡冲 ;

鲍军其 ;

王昭敦 .

中国专利 :CN217133303U ,2022-08-05

[6]

电子元件的测试装置 [P].

王士伟 .

中国专利 :CN2512112Y ,2002-09-18

[7]

电子元件模块及使用此电子元件模块的电子装置 [P].

喻良铭 ;

邹健龙 ;

林鑫立 ;

刘育明 .

中国专利 :CN1882221A ,2006-12-20

[8]

电子元件模块及使用此电子元件模块的电子装置 [P].

王明淑 ;

符高丽 .

中国专利 :CN106793554A ,2017-05-31

[9]

电子元件模块及使用此电子元件模块的电子装置 [P].

喻良铭 ;

邹健龙 ;

林鑫立 ;

刘育明 .

中国专利 :CN101299906A ,2008-11-05

[10]

电子元件测试装置 [P].

卢昱呈 ;

林冠龙 ;

吴振维 .

中国专利 :CN217787187U ,2022-11-11

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