电子元件测试模组的启闭装置

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN201420531890.4
申请日
2014-09-16
公开(公告)号
CN204166008U
公开(公告)日
2015-02-18
发明(设计)人
郑炜彦 赖正鑫 陈奂维 陈彦玮 李政勋
申请人
申请人地址
中国台湾台中市
IPC主分类号
G01R104
IPC分类号
代理机构
北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 11139
代理人
孙皓晨
法律状态
专利权的终止
国省代码
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共 50 条
[1]
电子元件测试模组的启闭装置 [P]. 
郑炜彦 ;
赖正鑫 ;
陈奂维 ;
陈彦玮 ;
李政勋 .
中国专利 :CN204142761U ,2015-02-04
[2]
电子元件测试模块的启闭装置 [P]. 
郑炜彦 ;
赖正鑫 ;
陈奂维 ;
陈彦玮 ;
李政勋 .
中国专利 :CN204065166U ,2014-12-31
[3]
电子元件的测试模组 [P]. 
资重兴 .
中国专利 :CN2729717Y ,2005-09-28
[4]
电子元件的测试装置 [P]. 
王士伟 .
中国专利 :CN2512113Y ,2002-09-18
[5]
电子元件测试装置 [P]. 
张峰 .
中国专利 :CN207164175U ,2018-03-30
[6]
电子元件测试装置 [P]. 
徐铭阳 ;
胡冲 ;
鲍军其 ;
王昭敦 .
中国专利 :CN217133303U ,2022-08-05
[7]
电子元件的测试装置 [P]. 
王士伟 .
中国专利 :CN2512112Y ,2002-09-18
[8]
电子元件测试装置 [P]. 
卢昱呈 ;
林冠龙 ;
吴振维 .
中国专利 :CN217787187U ,2022-11-11
[9]
电子元件测试装置 [P]. 
肖旭辉 .
中国专利 :CN205484609U ,2016-08-17
[10]
电子元件测试装置 [P]. 
徐铭阳 ;
胡冲 ;
鲍军其 ;
王昭敦 .
中国专利 :CN217466472U ,2022-09-20