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基板检查装置、基板处理装置、基板检查方法以及基板处理方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201780047626.X
申请日
:
2017-04-03
公开(公告)号
:
CN109564853A
公开(公告)日
:
2019-04-02
发明(设计)人
:
柏山真人
C·佩丘莱斯基
森田彰彦
松尾友宏
申请人
:
申请人地址
:
日本京都府
IPC主分类号
:
H01L21027
IPC分类号
:
G01N21956
H01L2166
代理机构
:
隆天知识产权代理有限公司 72003
代理人
:
向勇
法律状态
:
公开
国省代码
:
引用
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2019-04-02
公开
公开
2019-04-26
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/027 申请日:20170403
共 50 条
[1]
异物检查基板、基板处理装置以及基板处理方法
[P].
小杉仁
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
东京毅力科创株式会社
东京毅力科创株式会社
小杉仁
.
日本专利
:CN115702338B
,2024-08-06
[2]
异物检查基板、基板处理装置以及基板处理方法
[P].
小杉仁
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
小杉仁
.
中国专利
:CN115702338A
,2023-02-14
[3]
基板检查装置以及基板检查方法
[P].
山下宗宽
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
山下宗宽
.
中国专利
:CN105137255A
,2015-12-09
[4]
基板检查装置以及基板检查方法
[P].
菊池和义
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
CKD株式会社
CKD株式会社
菊池和义
;
小畑卓也
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
CKD株式会社
CKD株式会社
小畑卓也
.
日本专利
:CN118382798A
,2024-07-23
[5]
基板检查装置以及基板检查方法
[P].
高木修
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
高木修
.
中国专利
:CN102331429A
,2012-01-25
[6]
基板检查装置以及基板检查方法
[P].
山本正美
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
山本正美
.
中国专利
:CN1721868A
,2006-01-18
[7]
基板检查装置以及基板检查方法
[P].
菊池和义
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
CKD株式会社
CKD株式会社
菊池和义
.
日本专利
:CN117441099A
,2024-01-23
[8]
基板检查装置、基板检查方法以及基板检查程序
[P].
冈崎祥也
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
冈崎祥也
.
中国专利
:CN106154097A
,2016-11-23
[9]
基板处理装置以及基板处理装置的构件检查方法
[P].
桥诘彰夫
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
株式会社斯库林集团
株式会社斯库林集团
桥诘彰夫
.
日本专利
:CN110870045B
,2024-03-12
[10]
基板处理装置以及基板处理装置的构件检查方法
[P].
桥诘彰夫
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
桥诘彰夫
.
中国专利
:CN110870045A
,2020-03-06
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