氮化物薄膜结构及其形成方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN200980135167.6
申请日
2009-09-07
公开(公告)号
CN102150286B
公开(公告)日
2011-08-10
发明(设计)人
尹义埈 车国宪 金钟学 吴世源 禹熙济
申请人
申请人地址
韩国京畿道水原市灵通区光敎路145C-9楼.AICT
IPC主分类号
H01L3316
IPC分类号
代理机构
北京中原华和知识产权代理有限责任公司 11019
代理人
寿宁
法律状态
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国省代码
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共 50 条
[1]
半导体薄膜结构以及其形成方法 [P]. 
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[2]
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朴吉在 ;
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[3]
金属氮化物薄膜的形成方法 [P]. 
尹必根 ;
金泰学 ;
柳然康 .
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[4]
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魏同波 ;
常洪亮 ;
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中国专利 :CN111341648B ,2020-06-26
[5]
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梁萌 ;
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任芳 ;
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王军喜 ;
李晋闽 .
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[6]
极性控制方法、氮化物薄膜制备方法和氮化物薄膜 [P]. 
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[7]
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[8]
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陈圣昌 ;
钟志白 ;
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[9]
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平崎贵英 ;
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[10]
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全政秀 ;
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郑晓燮 ;
刘真赫 ;
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