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一种晶圆厚度自动测量设备
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202120908102.9
申请日
:
2021-04-29
公开(公告)号
:
CN216081330U
公开(公告)日
:
2022-03-18
发明(设计)人
:
胡杰
董瑞
诸敏敏
周娟
申请人
:
申请人地址
:
214000 江苏省无锡市新吴区新区出口加工区K5、K6地块
IPC主分类号
:
G01B1106
IPC分类号
:
代理机构
:
无锡市朗高知识产权代理有限公司 32262
代理人
:
赵华
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-03-18
授权
授权
共 50 条
[1]
一种晶圆厚度测量设备
[P].
余韦
论文数:
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机构:
江西兆驰半导体有限公司
江西兆驰半导体有限公司
余韦
;
李晨晨
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机构:
江西兆驰半导体有限公司
江西兆驰半导体有限公司
李晨晨
;
赵晓明
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机构:
江西兆驰半导体有限公司
江西兆驰半导体有限公司
赵晓明
;
董国庆
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机构:
江西兆驰半导体有限公司
江西兆驰半导体有限公司
董国庆
;
文国昇
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机构:
江西兆驰半导体有限公司
江西兆驰半导体有限公司
文国昇
;
金从龙
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机构:
江西兆驰半导体有限公司
江西兆驰半导体有限公司
金从龙
.
中国专利
:CN222048965U
,2024-11-22
[2]
一种晶圆厚度测量装置
[P].
李俊
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李俊
;
汪其长
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汪其长
;
聂文磊
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聂文磊
;
郑为井
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郑为井
;
邱智中
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邱智中
;
张家宏
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张家宏
.
中国专利
:CN205452239U
,2016-08-10
[3]
一种晶圆厚度测量装置
[P].
卢建
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卢建
;
韩亚萍
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韩亚萍
.
中国专利
:CN218443823U
,2023-02-03
[4]
一种晶圆厚度测量系统
[P].
简益升
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简益升
;
娄中华
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娄中华
;
王丹
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王丹
;
李洋
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李洋
.
中国专利
:CN216620926U
,2022-05-27
[5]
一种晶圆厚度测量系统和晶圆厚度测量方法
[P].
李尧
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机构:
重庆康佳光电技术研究院有限公司
重庆康佳光电技术研究院有限公司
李尧
;
梁永隆
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机构:
重庆康佳光电技术研究院有限公司
重庆康佳光电技术研究院有限公司
梁永隆
.
中国专利
:CN118136531A
,2024-06-04
[6]
一种皮革厚度自动测量设备
[P].
张昆鹏
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机构:
隆丰革乐美时尚有限公司
隆丰革乐美时尚有限公司
张昆鹏
;
林朋飞
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机构:
隆丰革乐美时尚有限公司
隆丰革乐美时尚有限公司
林朋飞
;
刘杰
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机构:
隆丰革乐美时尚有限公司
隆丰革乐美时尚有限公司
刘杰
;
杨帆
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隆丰革乐美时尚有限公司
隆丰革乐美时尚有限公司
杨帆
;
曹海伟
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隆丰革乐美时尚有限公司
隆丰革乐美时尚有限公司
曹海伟
;
田喜斌
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隆丰革乐美时尚有限公司
隆丰革乐美时尚有限公司
田喜斌
;
孙官升
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隆丰革乐美时尚有限公司
隆丰革乐美时尚有限公司
孙官升
;
李相奇
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隆丰革乐美时尚有限公司
隆丰革乐美时尚有限公司
李相奇
;
王洁泽
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机构:
隆丰革乐美时尚有限公司
隆丰革乐美时尚有限公司
王洁泽
.
中国专利
:CN222912698U
,2025-05-27
[7]
一种晶圆的厚度测量装置
[P].
王坚红
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王坚红
;
徐明成
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徐明成
;
陈锋
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陈锋
;
黄国军
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黄国军
;
王锋
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王锋
.
中国专利
:CN210512934U
,2020-05-12
[8]
晶圆厚度测量仪
[P].
何秋梅
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机构:
广东利扬芯片测试股份有限公司
广东利扬芯片测试股份有限公司
何秋梅
;
谢刚刚
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机构:
广东利扬芯片测试股份有限公司
广东利扬芯片测试股份有限公司
谢刚刚
;
韦世敏
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机构:
广东利扬芯片测试股份有限公司
广东利扬芯片测试股份有限公司
韦世敏
.
中国专利
:CN222926118U
,2025-05-30
[9]
全自动晶圆测量设备
[P].
尹陈林
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机构:
泰微科技(珠海)有限公司
泰微科技(珠海)有限公司
尹陈林
;
李浩辉
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机构:
泰微科技(珠海)有限公司
泰微科技(珠海)有限公司
李浩辉
.
中国专利
:CN223741481U
,2025-12-30
[10]
晶圆厚度测量装置及含此装置的晶圆厚度测量系统
[P].
张瑞
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张瑞
;
何海峰
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何海峰
.
中国专利
:CN207407780U
,2018-05-25
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