一种基于自动光学检测的晶圆缺陷检测装置

被引:0
申请号
CN202210250769.3
申请日
2022-03-15
公开(公告)号
CN114636671A
公开(公告)日
2022-06-17
发明(设计)人
叶井飞
申请人
申请人地址
215100 江苏省苏州市高新区浒杨路88号
IPC主分类号
G01N2101
IPC分类号
G01N2195
代理机构
无锡风创知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32461
代理人
骆莉
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
检测硅晶圆缺陷的自动光学检测机构 [P]. 
黄冠豪 ;
骆玉盛 .
中国专利 :CN210180940U ,2020-03-24
[2]
晶圆缺陷光学检测设备 [P]. 
方春钰 ;
李锦程 ;
蒋健君 ;
李星辰 ;
白丽园 .
中国专利 :CN223192850U ,2025-08-05
[3]
一种晶圆缺陷检测装置及晶圆缺陷检测方法 [P]. 
阿民 ;
相宇阳 ;
俞胜武 .
中国专利 :CN121164314A ,2025-12-19
[4]
晶圆缺陷检测机台 [P]. 
陈勇吉 .
中国专利 :CN203203942U ,2013-09-18
[5]
一种晶圆缺陷检测系统和晶圆缺陷检测方法 [P]. 
陈杰 ;
王冲 ;
陈轮兴 ;
义岚 .
中国专利 :CN120709174A ,2025-09-26
[6]
一种晶圆缺陷检测设备 [P]. 
陈梅霞 .
中国专利 :CN223037839U ,2025-06-27
[7]
一种晶圆缺陷检测机台 [P]. 
李云华 ;
黄雷 .
中国专利 :CN214313173U ,2021-09-28
[8]
一种晶圆缺陷检测设备 [P]. 
郭忠 .
中国专利 :CN221007365U ,2024-05-24
[9]
一种晶圆缺陷检测系统 [P]. 
郭庆丰 ;
相宇阳 ;
俞胜武 .
中国专利 :CN223551598U ,2025-11-14
[10]
一种晶圆缺陷的检测装置 [P]. 
刘明璋 ;
谢新梅 .
中国专利 :CN220438964U ,2024-02-02