一种检测双层膜的各膜层厚度均匀性的方法

被引：0

申请号：

CN202111398137.3

申请日：

2021-11-24

公开(公告)号：

CN114264240A

公开(公告)日：

2022-04-01

发明(设计)人：

李定李钱陶熊长新郝力凯金天义

申请人：

申请人地址：

430000 湖北省武汉市洪山区雄楚大街981号

IPC主分类号：

G01B1106

IPC分类号：

代理机构：

武汉蓝宝石专利代理事务所(特殊普通合伙) 42242

代理人：

范三霞

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-04-19	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/06 申请日:20211124
2022-04-01	公开	公开

共 50 条

[1]

一种检测双层膜的各膜层厚度均匀性的方法 [P].

李定 ;

李钱陶 ;

熊长新 ;

郝力凯 ;

金天义 .

中国专利 :CN114264240B ,2024-03-22

[2]

膜层厚度均匀性的检测方法 [P].

董俊 ;

张顾斌 ;

王雷 .

中国专利 :CN113628985A ,2021-11-09

[3]

光学膜层厚度均匀性的监测方法 [P].

陈卿峰 ;

万仁文 ;

杜振宇 ;

郑谨绪 ;

郑世璋 ;

杨智宏 ;

郑孟杰 ;

彭中宏 ;

蔡淑芬 ;

吕志宏 .

中国专利 :CN1752713A ,2006-03-29

[4]

一种纳米纤维膜的厚度均匀性检测装置 [P].

徐卫红 ;

徐晓东 ;

赵德中 ;

陈卫丰 .

中国专利 :CN119063639A ,2024-12-03

[5]

一种纳米纤维膜的厚度均匀性检测装置 [P].

徐卫红 ;

徐晓东 ;

赵德中 ;

陈卫丰 .

中国专利 :CN119063639B ,2025-05-09

[6]

在线监测薄膜、镀膜及涂布膜膜层厚度均匀性的装置 [P].

唐能诚 ;

胡建河 .

中国专利 :CN2435740Y ,2001-06-20

[7]

一种用于纳米纤维膜的厚度均匀性检测装置 [P].

姚理荣 ;

夏勇 ;

龙啸云 ;

徐思峻 ;

潘刚伟 ;

孙启龙 ;

张成蛟 .

中国专利 :CN113465519A ,2021-10-01

[8]

一种膜类产品厚度均匀性检测方法及装置 [P].

张凯凯 ;

刘鑫 .

中国专利 :CN120760606A ,2025-10-10

[9]

优化硅膜厚度均匀性的模具形状 [P].

G·B·库克 ;

P·马宗达 ;

B·苏曼 .

中国专利 :CN103025925A ,2013-04-03

[10]

一种偏光片膜厚度均匀性检测装置 [P].

王雷 ;

袁博 ;

肖观学 .

中国专利 :CN209945263U ,2020-01-14

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