膜厚测定方法和膜厚测定装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201810236094.0

申请日：

2018-03-21

公开(公告)号：

CN108627105A

公开(公告)日：

2018-10-09

发明(设计)人：

三浦真德高柳顺

申请人：

申请人地址：

日本爱知县

IPC主分类号：

G01B1106

IPC分类号：

代理机构：

北京市中咨律师事务所 11247

代理人：

张轶楠;段承恩

法律状态：

公开

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-10-09	公开	公开
2018-11-02	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/06 申请日:20180321
2020-06-09	授权	授权

共 50 条

[1]

膜厚测定装置和膜厚测定方法 [P].

山田健夫 ;

山本猛 ;

河合慎吾 .

中国专利 :CN103459976A ,2013-12-18

[2]

膜厚测定装置和膜厚测定方法 [P].

八寻俊一 ;

尾上幸太朗 ;

田中茂喜 .

中国专利 :CN106017337A ,2016-10-12

[3]

膜厚测定装置和膜厚测定方法 [P].

岩永修儿 ;

西山直 ;

加藤宽三 .

中国专利 :CN105097587B ,2015-11-25

[4]

膜厚测定装置以及膜厚测定方法 [P].

山田健夫 ;

山本猛 ;

山仓崇宽 ;

林真治 ;

河合慎吾 .

中国专利 :CN101981406A ,2011-02-23

[5]

膜厚测定装置及膜厚测定方法 [P].

土屋邦彦 ;

荒野谕 ;

大塚贤一 .

日本专利 :CN117355724A ,2024-01-05

[6]

膜厚测定装置及膜厚测定方法 [P].

黑川政秋 ;

安井润 ;

见持圭一 ;

盐谷成敏 .

中国专利 :CN103765156B ,2014-04-30

[7]

膜厚测定装置及膜厚测定方法 [P].

大冢贤一 ;

森岛康太 ;

土屋邦彦 .

日本专利 :CN120604098A ,2025-09-05

[8]

膜厚测定装置及膜厚测定方法 [P].

大冢贤一 ;

森岛康太 ;

土屋邦彦 ;

高桥辉雄 .

日本专利 :CN120500609A ,2025-08-15

[9]

膜厚测定装置、膜厚测定系统及膜厚测定方法 [P].

青木诚志 .

日本专利 :CN120721008A ,2025-09-30

[10]

膜厚测定装置及膜厚测定方法 [P].

大塚贤一 ;

中野哲寿 ;

渡边元之 .

中国专利 :CN102483320A ,2012-05-30

← 1 2 3 4 5 →