膜厚测定装置及膜厚测定方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201080038809.3

申请日：

2010-07-27

公开(公告)号：

CN102483320A

公开(公告)日：

2012-05-30

发明(设计)人：

大塚贤一中野哲寿渡边元之

申请人：

申请人地址：

日本静冈县

IPC主分类号：

G01B1106

IPC分类号：

代理机构：

北京尚诚知识产权代理有限公司 11322

代理人：

杨琦

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2012-05-30	公开	公开
2014-04-02	授权	授权
2012-07-11	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101294515086 IPC(主分类):G01B 11/06 专利申请号:2010800388093 申请日:20100727

共 50 条

[1]

膜厚测定装置、膜厚测定系统及膜厚测定方法 [P].

青木诚志 .

日本专利 :CN120721008A ,2025-09-30

[2]

膜厚测定装置及膜厚测定方法 [P].

土屋邦彦 ;

荒野谕 ;

大塚贤一 .

日本专利 :CN117355724A ,2024-01-05

[3]

膜厚测定装置及膜厚测定方法 [P].

黑川政秋 ;

安井润 ;

见持圭一 ;

盐谷成敏 .

中国专利 :CN103765156B ,2014-04-30

[4]

膜厚测定装置及膜厚测定方法 [P].

大冢贤一 ;

森岛康太 ;

土屋邦彦 .

日本专利 :CN120604098A ,2025-09-05

[5]

膜厚测定装置及膜厚测定方法 [P].

中村共则 ;

大塚贤一 ;

荒野谕 ;

土屋邦彦 .

中国专利 :CN115104000A ,2022-09-23

[6]

膜厚测定装置及膜厚测定方法 [P].

大冢贤一 ;

森岛康太 ;

土屋邦彦 ;

高桥辉雄 .

日本专利 :CN120500609A ,2025-08-15

[7]

膜厚测定方法 [P].

永冈达司 ;

西中浩之 ;

吉本昌广 .

中国专利 :CN111947582A ,2020-11-17

[8]

膜厚测定装置以及膜厚测定方法 [P].

山田健夫 ;

山本猛 ;

山仓崇宽 ;

林真治 ;

河合慎吾 .

中国专利 :CN101981406A ,2011-02-23

[9]

膜厚测定装置和膜厚测定方法 [P].

八寻俊一 ;

尾上幸太朗 ;

田中茂喜 .

中国专利 :CN106017337A ,2016-10-12

[10]

膜厚测定方法和膜厚测定装置 [P].

三浦真德 ;

高柳顺 .

中国专利 :CN108627105A ,2018-10-09

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