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膜厚测定装置、膜厚测定系统及膜厚测定方法

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202510227534.6
申请日：
2025-02-27
公开(公告)号：
CN120721008A
公开(公告)日：
2025-09-30
发明(设计)人：
青木诚志
申请人：
本田技研工业株式会社
申请人地址：
日本东京都港区
IPC主分类号：
G01B11/06
IPC分类号：
G01B7/06 G01B17/02
代理机构：
北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006
代理人：
徐金国;吴启超
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-09-30 公开 公开
2025-10-21 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G01B 11/06申请日:20250227
共 50 条
[1]
膜厚测定装置及膜厚测定方法 [P]. 
大塚贤一 ;
中野哲寿 ;
渡边元之 .
中国专利 :CN102483320A ,2012-05-30
[2]
膜厚测定装置及膜厚测定方法 [P]. 
土屋邦彦 ;
荒野谕 ;
大塚贤一 .
日本专利 :CN117355724A ,2024-01-05
[3]
膜厚测定装置及膜厚测定方法 [P]. 
黑川政秋 ;
安井润 ;
见持圭一 ;
盐谷成敏 .
中国专利 :CN103765156B ,2014-04-30
[4]
膜厚测定装置及膜厚测定方法 [P]. 
大冢贤一 ;
森岛康太 ;
土屋邦彦 .
日本专利 :CN120604098A ,2025-09-05
[5]
膜厚测定装置及膜厚测定方法 [P]. 
中村共则 ;
大塚贤一 ;
荒野谕 ;
土屋邦彦 .
中国专利 :CN115104000A ,2022-09-23
[6]
膜厚测定装置及膜厚测定方法 [P]. 
大冢贤一 ;
森岛康太 ;
土屋邦彦 ;
高桥辉雄 .
日本专利 :CN120500609A ,2025-08-15
[7]
膜厚测定装置以及膜厚测定方法 [P]. 
山田健夫 ;
山本猛 ;
山仓崇宽 ;
林真治 ;
河合慎吾 .
中国专利 :CN101981406A ,2011-02-23
[8]
膜厚测定装置和膜厚测定方法 [P]. 
八寻俊一 ;
尾上幸太朗 ;
田中茂喜 .
中国专利 :CN106017337A ,2016-10-12
[9]
膜厚测定方法和膜厚测定装置 [P]. 
三浦真德 ;
高柳顺 .
中国专利 :CN108627105A ,2018-10-09
[10]
膜厚测定装置和膜厚测定方法 [P]. 
岩永修儿 ;
西山直 ;
加藤宽三 .
中国专利 :CN105097587B ,2015-11-25
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