芯片测试防呆方法及系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110918095.5

申请日：

2021-08-11

公开(公告)号：

CN113359014A

公开(公告)日：

2021-09-07

发明(设计)人：

王庚

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市南山区西丽街道西丽社区打石一路深圳国际创新谷八栋(万科云城三期C区八栋)A座3104房研发用房

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

广州三环专利商标代理有限公司 44202

代理人：

熊永强

法律状态：

发明专利申请公布后的驳回

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-11-18	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01R 31/28 申请公布日:20210907
2021-09-24	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20210811
2021-09-07	公开	公开

共 50 条

[1]

芯片测试的资源防呆方法及装置、芯片测试系统 [P].

罗茗怡 ;

陈光胜 ;

娄锦兰 ;

孙国荣 .

中国专利 :CN119596111A ,2025-03-11

[2]

芯片测试方法及芯片测试系统 [P].

周祥 ;

唐绪伟 ;

钟峰 ;

袁俊 ;

张亦锋 ;

郑挺 ;

郑朝生 ;

袁刚 ;

张会战 ;

辜诗涛 ;

魏强 ;

容承昌 ;

卢旭坤 .

中国专利 :CN111346845B ,2020-06-30

[3]

芯片测试系统及测试方法 [P].

周彦杰 ;

陈光胜 .

中国专利 :CN106556793A ,2017-04-05

[4]

芯片互连测试方法、芯片测试系统及自动化测试设备 [P].

许团辉 ;

朴英珲 ;

崔昌明 .

中国专利 :CN118314944A ,2024-07-09

[5]

芯片测试机及芯片测试系统 [P].

王晓斌 ;

马彦斌 ;

李鑫 ;

王亮 ;

朱旋虎 .

中国专利 :CN220603633U ,2024-03-15

[6]

芯片测试系统及芯片测试方法 [P].

张大成 ;

施瑾 ;

刘远华 ;

顾春华 ;

郝丹丹 .

中国专利 :CN103576079A ,2014-02-12

[7]

芯片测试方法、芯片测试系统和测试设备 [P].

刘伟 ;

朱仁艳 ;

黄金煌 .

中国专利 :CN119805164A ,2025-04-11

[8]

芯片测试系统和芯片测试系统的控制方法 [P].

田健飞 ;

王远 ;

唐平 .

中国专利 :CN114518524A ,2022-05-20

[9]

芯片测试系统和芯片测试系统的控制方法 [P].

田健飞 ;

王远 ;

唐平 .

中国专利 :CN114518524B ,2025-07-08

[10]

测试设备的控制方法及芯片测试系统 [P].

于洋 ;

邓成龙 ;

王德伟 ;

李金胚 ;

孙传凤 .

中国专利 :CN119375682B ,2025-07-15

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