基于FPGA的芯片测试装置及方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201310445372.0

申请日：

2013-09-26

公开(公告)号：

CN103472386B

公开(公告)日：

2013-12-25

发明(设计)人：

史振国孙忠周王建强宫琦

申请人：

申请人地址：

264200 山东省威海市高区火炬路159号北洋集团

IPC主分类号：

G01R31317

IPC分类号：

G01R313177 G01R313181

代理机构：

威海科星专利事务所 37202

代理人：

初姣姣

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2017-07-28	授权	授权
2015-02-25	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101599715677 IPC(主分类):G01R 31/317 专利申请号:2013104453720 申请日:20130926
2013-12-25	公开	公开

共 50 条

[1]

芯片测试方法及芯片测试装置 [P].

孙文琪 ;

高伟 .

中国专利 :CN119003257A ,2024-11-22

[2]

芯片的测试装置及测试方法 [P].

谷士豪 .

中国专利 :CN118294784A ,2024-07-05

[3]

一种FPGA芯片功能测试装置及方法 [P].

徐展 ;

李朝历 ;

李想 .

中国专利 :CN109541445A ,2019-03-29

[4]

基于fpga的芯片测试系统及方法 [P].

赵毅辰 ;

高胜 .

中国专利 :CN110058147B ,2019-07-26

[5]

限位框、芯片测试装置及芯片测试方法 [P].

李中政 ;

李志雄 .

中国专利 :CN104251922B ,2014-12-31

[6]

芯片测试电路、测试方法及测试装置 [P].

魏津 ;

胡雪原 ;

徐润生 .

中国专利 :CN113567841A ,2021-10-29

[7]

芯片测试方法及芯片测试装置 [P].

高伟 ;

孙文琪 .

中国专利 :CN118838765A ,2024-10-25

[8]

芯片测试方法及芯片测试装置 [P].

高伟 ;

孙文琪 .

中国专利 :CN118838765B ,2025-11-07

[9]

DSP芯片测试装置及方法 [P].

肖戈 .

中国专利 :CN113484728A ,2021-10-08

[10]

芯片对比测试装置和方法 [P].

张广乐 ;

薛广营 ;

郭月俊 ;

季冬冬 .

中国专利 :CN117805580A ,2024-04-02

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