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半导体晶片处理装置
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201680087217.8
申请日
:
2016-05-27
公开(公告)号
:
CN109415807A
公开(公告)日
:
2019-03-01
发明(设计)人
:
J·舒格鲁
卢西恩·C·希迪拉
克里斯·G·M·德里德
申请人
:
申请人地址
:
荷兰阿尔默勒
IPC主分类号
:
C23C16455
IPC分类号
:
代理机构
:
北京派特恩知识产权代理有限公司 11270
代理人
:
孟媛;姚开丽
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2019-03-26
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):C23C 16/455 申请日:20160527
2019-03-01
公开
公开
2021-11-23
授权
授权
共 50 条
[21]
半导体装置及半导体晶片
[P].
古田建一
论文数:
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古田建一
;
辻本雅夫
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辻本雅夫
;
寺田信广
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寺田信广
;
原口正博
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原口正博
;
井上刚
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井上刚
;
金子裕一
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金子裕一
;
黑木弘树
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黑木弘树
;
古平贵章
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古平贵章
.
中国专利
:CN114497176A
,2022-05-13
[22]
半导体晶片及半导体装置
[P].
大野天颂
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大野天颂
;
堂前佑辅
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堂前佑辅
.
中国专利
:CN110838515A
,2020-02-25
[23]
半导体装置、半导体晶片与制造半导体晶片的方法
[P].
林孟汉
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林孟汉
;
黄家恩
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黄家恩
.
中国专利
:CN114725123A
,2022-07-08
[24]
处理单晶半导体晶片的方法和局部处理的半导体晶片
[P].
J·赫普夫纳
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0
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J·赫普夫纳
.
中国专利
:CN1346511A
,2002-04-24
[25]
用于处理半导体晶片的方法、控制系统和设备,以及半导体晶片
[P].
S·韦尔施
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S·韦尔施
;
C·韦伯
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C·韦伯
;
A·拜尔
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A·拜尔
.
中国专利
:CN110770878A
,2020-02-07
[26]
半导体晶片处理腔室及半导体处理设备
[P].
贾强
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贾强
.
中国专利
:CN208848871U
,2019-05-10
[27]
半导体晶片处理腔室及半导体处理设备
[P].
贾强
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贾强
.
中国专利
:CN111799191A
,2020-10-20
[28]
半导体晶片热处理设备
[P].
姜声勋
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姜声勋
;
高永洛
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高永洛
;
李贞圭
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李贞圭
.
中国专利
:CN1177830A
,1998-04-01
[29]
半导体晶片处理工具
[P].
埃勒·Y·尤科
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埃勒·Y·尤科
.
中国专利
:CN305957146S
,2020-07-31
[30]
处理半导体晶片的方法
[P].
克里斯托福·戴维·多布森
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克里斯托福·戴维·多布森
.
中国专利
:CN1042577C
,1994-07-20
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