一种LED芯片强度测试装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201810590303.1

申请日：

2018-06-08

公开(公告)号：

CN108535120A

公开(公告)日：

2018-09-14

发明(设计)人：

陈美金

申请人：

申请人地址：

313000 浙江省湖州市湖州经济技术开发区赛格数码城2幢湖州慧能机电科技有限公司

IPC主分类号：

G01N320

IPC分类号：

G01N306

代理机构：

北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246

代理人：

郭晓凤

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-10-16	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 3/20 申请日:20180608
2021-04-16	发明专利申请公布后的撤回	发明专利申请公布后的撤回 IPC(主分类):G01N 3/20 申请公布日:20180914

共 50 条

[1]

一种LED芯片强度测试装置 [P].

陈美金 .

中国专利 :CN208254977U ,2018-12-18

[2]

一种LED芯片抗断裂强度测试装置 [P].

陈美金 .

中国专利 :CN208187869U ,2018-12-04

[3]

一种LED芯片抗断裂强度测试装置 [P].

陈美金 .

中国专利 :CN108760529A ,2018-11-06

[4]

一种LED芯片强度测试装置 [P].

马帅 .

中国专利 :CN212059674U ,2020-12-01

[5]

一种LED芯片抗断裂强度测试装置 [P].

彭朝亮 .

中国专利 :CN209656454U ,2019-11-19

[6]

一种LED芯片抗断裂强度测试装置 [P].

张鑫钰 .

中国专利 :CN211206078U ,2020-08-07

[7]

一种LED芯片测试装置 [P].

杨良春 ;

赵永峰 .

中国专利 :CN213482379U ,2021-06-18

[8]

一种LED芯片测试装置 [P].

蒙旻 ;

朱大江 ;

李平 .

中国专利 :CN210876341U ,2020-06-30

[9]

一种LED芯片测试装置 [P].

彭璐 ;

黄博 ;

王贤洲 ;

吴向龙 ;

徐现刚 .

中国专利 :CN204925329U ,2015-12-30

[10]

LED芯片测试装置 [P].

柳炳韶 .

中国专利 :CN102326090B ,2012-01-18

← 1 2 3 4 5 →