AlN缓冲层及具有该缓冲层的芯片的制备方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201510051801.5
申请日
2015-01-31
公开(公告)号
CN104701137A
公开(公告)日
2015-06-10
发明(设计)人
吴志浩
申请人
申请人地址
430223 湖北省武汉市东湖新技术开发区滨湖路8号
IPC主分类号
H01L2102
IPC分类号
H01L3300 H01L3310
代理机构
北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138
代理人
徐立
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
带有AlN缓冲层的LED芯片及制造方法 [P]. 
吴永胜 ;
张帆 ;
刘德意 .
中国专利 :CN110137323A ,2019-08-16
[2]
AlN缓冲层上生长超晶格插入层的外延结构及制备方法 [P]. 
程海林 ;
朱帅 .
中国专利 :CN118263370A ,2024-06-28
[3]
InAlN缓冲层生长AlN和AlGaN的方法 [P]. 
冯志宏 ;
刘波 ;
尹甲运 .
中国专利 :CN101345192A ,2009-01-14
[4]
基于AlN衬底上AlN缓冲层的异质结HEMT器件及制备方法 [P]. 
周弘 ;
张超群 ;
胡超杰 ;
刘志宏 ;
张进成 ;
郝跃 .
中国专利 :CN119562556A ,2025-03-04
[5]
具有缓冲层的高质量AlN薄膜及其制备方法与应用 [P]. 
李国强 ;
衣新燕 ;
罗添友 .
中国专利 :CN118854449A ,2024-10-29
[6]
具有缓冲层的高质量AlN薄膜及其制备方法与应用 [P]. 
李国强 ;
衣新燕 ;
罗添友 .
中国专利 :CN118854449B ,2025-01-14
[7]
一种AlN缓冲层的生长方法 [P]. 
桑立雯 ;
杨志坚 ;
秦志新 ;
方浩 ;
于彤军 ;
张国义 .
中国专利 :CN101580930A ,2009-11-18
[8]
一种AlN缓冲层结构及其制备方法 [P]. 
李国强 .
中国专利 :CN108807625A ,2018-11-13
[9]
一种具有AlN压力调制缓冲层的Si基GaN薄膜及制备方法 [P]. 
于乃森 ;
陈向丰 ;
齐岩 ;
赵海燕 ;
董大朋 .
中国专利 :CN107492480A ,2017-12-19
[10]
一种具有缓冲层的ZnO薄膜的制备方法 [P]. 
沈洪雪 ;
姚婷婷 ;
杨勇 ;
李刚 .
中国专利 :CN108560051A ,2018-09-21