可自动定位芯片的半导体芯片测试插座

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201410443449.5

申请日：

2014-09-02

公开(公告)号：

CN104155490A

公开(公告)日：

2014-11-19

发明(设计)人：

孙鸿斐贺涛

申请人：

申请人地址：

215000 江苏省苏州市工业园区和顺路1号博济科技园416

IPC主分类号：

G01R104

IPC分类号：

代理机构：

无锡市汇诚永信专利代理事务所(普通合伙) 32260

代理人：

张欢勇

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2014-12-17	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101591917572 IPC(主分类):G01R 1/04 专利申请号:2014104434495 申请日:20140902
2014-11-19	公开	公开
2017-01-11	授权	授权

共 50 条

[1]

可自动定位芯片的半导体芯片测试插座 [P].

孙鸿斐 ;

贺涛 .

中国专利 :CN204177828U ,2015-02-25

[2]

半导体芯片测试插座 [P].

蒋卫兵 .

中国专利 :CN202182906U ,2012-04-04

[3]

半导体芯片测试插座 [P].

池谷清和 ;

姜基源 .

中国专利 :CN107750337A ,2018-03-02

[4]

半导体芯片测试插座 [P].

高宗英 .

中国专利 :CN301714122S ,2011-11-02

[5]

半导体芯片测试插座 [P].

游晨 .

中国专利 :CN216209321U ,2022-04-05

[6]

一种半导体芯片测试插座加工定位装置 [P].

游晨 .

中国专利 :CN216176904U ,2022-04-05

[7]

一种用于半导体芯片的测试插座 [P].

郭峻岭 .

中国专利 :CN217879331U ,2022-11-22

[8]

一种测试半导体芯片的芯片插座 [P].

李北印 ;

沈红星 ;

陈泳宇 ;

王超群 .

中国专利 :CN118348394A ,2024-07-16

[9]

一种测试半导体芯片的芯片插座 [P].

李北印 ;

沈红星 ;

陈泳宇 ;

王超群 .

中国专利 :CN118348394B ,2024-11-01

[10]

一种半导体芯片的测试插座 [P].

王斌 .

中国专利 :CN217787285U ,2022-11-11

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