栅极结构的形成方法、半导体器件的形成方法以及半导体器件

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专利类型
发明
申请号
CN201210246572.9
申请日
2012-07-16
公开(公告)号
CN103545190A
公开(公告)日
2014-01-29
发明(设计)人
杨红 马雪丽 王文武 韩锴 王晓磊 殷华湘 闫江
申请人
申请人地址
100029 北京市朝阳区北土城西路3号
IPC主分类号
H01L2128
IPC分类号
H01L218238 H01L29423 H01L27092
代理机构
北京集佳知识产权代理有限公司 11227
代理人
李可;姜义民
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
栅极结构的形成方法、半导体器件的形成方法以及半导体器件 [P]. 
杨红 ;
马雪丽 ;
王文武 ;
韩锴 ;
王晓磊 ;
殷华湘 ;
闫江 .
中国专利 :CN103545191A ,2014-01-29
[2]
栅极结构、半导体器件和两者的形成方法 [P]. 
杨红 ;
王文武 ;
殷华湘 ;
闫江 ;
马雪丽 .
中国专利 :CN103545189A ,2014-01-29
[3]
半导体器件栅极的形成方法 [P]. 
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[4]
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[6]
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[7]
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[8]
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[9]
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[10]
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