一种基于典型功耗分析的集成电路保留指令测试电路

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202111449125.9

申请日：

2021-11-30

公开(公告)号：

CN114236347A

公开(公告)日：

2022-03-25

发明(设计)人：

王贺屈若媛张红旗张大宇唐章东王征宁永成张松崔华楠李健焘吉美宁梁培哲

申请人：

申请人地址：

100194 北京市海淀区友谊路104号

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

中国航天科技专利中心 11009

代理人：

任林冲

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-04-12	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20211130
2022-03-25	公开	公开

共 50 条

[1]

一种基于典型功耗分析的集成电路保留指令测试电路 [P].

王贺 ;

屈若媛 ;

张红旗 ;

张大宇 ;

唐章东 ;

王征 ;

宁永成 ;

张松 ;

崔华楠 ;

李健焘 ;

吉美宁 ;

梁培哲 .

中国专利 :CN114236347B ,2024-07-09

[2]

集成电路的测试电路 [P].

施浩 .

中国专利 :CN2844936Y ,2006-12-06

[3]

一种基于源码分析的集成电路功耗分析方法 [P].

林哲 ;

林泽帆 .

中国专利 :CN121009847A ,2025-11-25

[4]

一种用于测试集成电路的电路架构及集成电路测试方法 [P].

丁盛峰 ;

李志浩 ;

阮辉 .

中国专利 :CN118112397A ,2024-05-31

[5]

集成电路中的集成测试电路 [P].

G·弗兰科维斯基 ;

R·凯塞 .

中国专利 :CN1523368A ,2004-08-25

[6]

一种集成电路功耗测试系统 [P].

史云 ;

蒋飞 ;

史和平 ;

王国珍 ;

曹蒋杰 .

中国专利 :CN117517923A ,2024-02-06

[7]

一种集成电路功耗测试系统 [P].

史云 ;

蒋飞 ;

史和平 ;

王国珍 ;

曹蒋杰 .

中国专利 :CN117517923B ,2024-06-18

[8]

测试电路插入集成电路的方法、装置和集成电路 [P].

方志强 ;

汪瑶 ;

张伦 ;

耿锐 .

中国专利 :CN120409384A ,2025-08-01

[9]

一种集成电路测试机的自诊断电路 [P].

魏津 ;

张经祥 ;

吴艳平 .

中国专利 :CN214953929U ,2021-11-30

[10]

一种集成电路和集成电路的测试方法 [P].

何军 ;

其他发明人请求不公开姓名 .

中国专利 :CN106959411A ,2017-07-18

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