一种基于源码分析的集成电路功耗分析方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202511057300.8

申请日：

2025-07-30

公开(公告)号：

CN121009847A

公开(公告)日：

2025-11-25

发明(设计)人：

林哲林泽帆

申请人：

中山大学·深圳中山大学

申请人地址：

518107 广东省深圳市光明区新湖街道公常路66号

IPC主分类号：

G06F30/367

IPC分类号：

G06F30/373 G06N3/042 G06N3/08

代理机构：

广州三环专利商标代理有限公司 44202

代理人：

黄松平

法律状态：

公开

国省代码：

广东省广州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-11-25	公开	公开
2025-12-12	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 30/367申请日:20250730

共 50 条

[1]

一种基于典型功耗分析的集成电路保留指令测试电路 [P].

王贺 ;

屈若媛 ;

张红旗 ;

张大宇 ;

唐章东 ;

王征 ;

宁永成 ;

张松 ;

崔华楠 ;

李健焘 ;

吉美宁 ;

梁培哲 .

中国专利 :CN114236347B ,2024-07-09

[2]

一种基于典型功耗分析的集成电路保留指令测试电路 [P].

王贺 ;

屈若媛 ;

张红旗 ;

张大宇 ;

唐章东 ;

王征 ;

宁永成 ;

张松 ;

崔华楠 ;

李健焘 ;

吉美宁 ;

梁培哲 .

中国专利 :CN114236347A ,2022-03-25

[3]

集成电路的时序分析方法及集成电路的时序分析装置 [P].

陈英杰 ;

余美俪 ;

王鼎雄 ;

罗幼岚 ;

高淑怡 .

中国专利 :CN105808806B ,2016-07-27

[4]

基于集成电路的供电噪声分析方法 [P].

胡峰 ;

白强 ;

唐瑜 ;

柳永胜 .

中国专利 :CN111241782A ,2020-06-05

[5]

一种基于集成电路功耗分析的故障诊断建库方法 [P].

王新胜 ;

韩良 ;

刘晓宁 ;

王晨旭 .

中国专利 :CN106844890B ,2017-06-13

[6]

用于分析集成电路的方法、设备和集成电路 [P].

马特吉·戈森斯 ;

弗兰克·萨卡里亚斯 .

中国专利 :CN101213465A ,2008-07-02

[7]

一种集成电路的开封分析方法 [P].

龚羽 .

中国专利 :CN120820566A ,2025-10-21

[8]

一种集成电路缺陷的分析方法 [P].

倪棋梁 ;

陈宏璘 ;

龙吟 .

中国专利 :CN104062305B ,2014-09-24

[9]

集成电路工艺分析系统及分析方法 [P].

不公告发明人 .

中国专利 :CN110968984B ,2020-04-07

[10]

用于集成电路芯片的设计的功耗分析方法及装置 [P].

王毓千 ;

高鹏鹏 ;

晋大师 ;

梁洪昌 .

中国专利 :CN116127913B ,2025-11-25

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