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使用氟抑制剂的氮化硅和氧化硅沉积方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202110733728.5
申请日
:
2021-06-30
公开(公告)号
:
CN113881930A
公开(公告)日
:
2022-01-04
发明(设计)人
:
沟口隆志
芝英一郎
上田真也
金仙子
申请人
:
申请人地址
:
荷兰阿尔梅勒
IPC主分类号
:
C23C1630
IPC分类号
:
C23C1602
C23C1634
C23C1640
C23C16455
C23C16509
H01L2102
代理机构
:
北京市柳沈律师事务所 11105
代理人
:
王冉
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-01-04
公开
公开
共 50 条
[1]
氧化硅和氧氮化硅的低温沉积
[P].
先崎义秀
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先崎义秀
;
李尚因
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李尚因
;
李尚校
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李尚校
.
中国专利
:CN1868041A
,2006-11-22
[2]
沉积氮化硅的方法
[P].
L·C·卡鲁塔拉格
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L·C·卡鲁塔拉格
;
M·J·萨利
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M·J·萨利
;
P·P·杰哈
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P·P·杰哈
;
梁璟梅
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梁璟梅
.
中国专利
:CN113330141A
,2021-08-31
[3]
制备氧化硅和氮化硅超晶格结构的方法
[P].
马宏平
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马宏平
;
张园览
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张园览
.
中国专利
:CN112670167A
,2021-04-16
[4]
沉积氮化硅的方法和设备
[P].
凯瑟琳·克鲁克
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凯瑟琳·克鲁克
;
史蒂夫·伯吉斯
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史蒂夫·伯吉斯
.
中国专利
:CN110835748A
,2020-02-25
[5]
基底/氧化硅/氮化硅/氧化硅/硅组件的制造方法
[P].
叶彦宏
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叶彦宏
;
范左鸿
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范左鸿
;
刘慕义
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刘慕义
;
詹光阳
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詹光阳
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卢道政
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卢道政
.
中国专利
:CN1419280A
,2003-05-21
[6]
氮化硅沉积炉管
[P].
不公告发明人
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不公告发明人
.
中国专利
:CN208517524U
,2019-02-19
[7]
氮化硅薄膜沉积方法
[P].
俞锦辰
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机构:
上海集成电路研发中心有限公司
上海集成电路研发中心有限公司
俞锦辰
;
胡正军
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上海集成电路研发中心有限公司
上海集成电路研发中心有限公司
胡正军
;
钟晓兰
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机构:
上海集成电路研发中心有限公司
上海集成电路研发中心有限公司
钟晓兰
.
中国专利
:CN119020749A
,2024-11-26
[8]
氮化硅膜的沉积方法
[P].
H·钱德拉
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H·钱德拉
;
A·马利卡朱南
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A·马利卡朱南
;
雷新建
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雷新建
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金武性
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金武性
;
K·S·卡瑟尔
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K·S·卡瑟尔
;
M·L·奥尼尔
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M·L·奥尼尔
.
中国专利
:CN104831254B
,2015-08-12
[9]
氮化硅膜沉积设备和沉积方法
[P].
解占壹
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解占壹
;
刘海金
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刘海金
;
刘伟
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刘伟
.
中国专利
:CN102817011B
,2012-12-12
[10]
硅、氧化硅和氮化硅的堆栈结构刻蚀方法
[P].
李芳
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李芳
;
周海锋
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周海锋
.
中国专利
:CN102403213A
,2012-04-04
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