一种全氟离子膜制备过程中多路高精度温度控制系统

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专利类型
实用新型
申请号
CN201921073935.7
申请日
2019-07-10
公开(公告)号
CN209803646U
公开(公告)日
2019-12-17
发明(设计)人
孟青 夏鸣声
申请人
申请人地址
124101 辽宁省盘锦市盘山县太平镇杜家村
IPC主分类号
G05D2322
IPC分类号
代理机构
太原晋科知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 14110
代理人
杨陈凤
法律状态
专利申请权、专利权的转移
国省代码
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共 50 条
[1]
一种高精度热电炉温度控制系统 [P]. 
费贤超 .
中国专利 :CN203224797U ,2013-10-02
[2]
一种高精度温度控制系统 [P]. 
崔静 ;
郭金龙 ;
沙利烽 ;
吴冬 ;
程思奇 .
中国专利 :CN203705994U ,2014-07-09
[3]
一种晶体生长过程高精度温度控制系统 [P]. 
潘丰 ;
沈正阳 ;
邹金鹏 .
中国专利 :CN206486619U ,2017-09-12
[4]
一种晶体生长过程高精度温度控制系统 [P]. 
潘丰 ;
沈正阳 ;
邹金鹏 .
中国专利 :CN106637381A ,2017-05-10
[5]
一种高精度温度控制系统 [P]. 
张帅 ;
鲁爱昕 ;
施奇兵 ;
高娜 ;
潘焕双 .
中国专利 :CN203733012U ,2014-07-23
[6]
一种高精度温度控制系统 [P]. 
不公告发明人 .
中国专利 :CN114647265A ,2022-06-21
[7]
一种高精度温度控制系统 [P]. 
崔静 ;
郭金龙 ;
沙利烽 ;
吴冬 ;
程思奇 .
中国专利 :CN103677017A ,2014-03-26
[8]
全氟离子膜制备过程中的溶剂回收装置 [P]. 
杨大伟 ;
杨丰仁 ;
祝向伟 .
中国专利 :CN203125825U ,2013-08-14
[9]
一种全氟离子膜制备过程中的溶剂回收装置 [P]. 
张恒 ;
姜志宏 ;
靳芳芳 ;
高启秀 ;
张玲 ;
王胜 .
中国专利 :CN211334230U ,2020-08-25
[10]
用于锗单晶生长过程中的高精度温度控制方法及控制系统 [P]. 
张红勇 .
中国专利 :CN101392405B ,2009-03-25