一种CMOS温度传感芯片测试系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201510233069.3

申请日：

2015-05-08

公开(公告)号：

CN104833446A

公开(公告)日：

2015-08-12

发明(设计)人：

魏榕山林心禹刘德鑫黄海舟郭仕忠何明华

申请人：

申请人地址：

350002 福建省福州市鼓楼区工业路523号

IPC主分类号：

G01K1500

IPC分类号：

代理机构：

福州元创专利商标代理有限公司 35100

代理人：

蔡学俊

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2017-07-04	授权	授权
2022-04-08	专利申请权、专利权的转移	专利权的转移 IPC(主分类):G01K 15/00 登记生效日:20220329 变更事项:专利权人变更前权利人:福州大学变更后权利人:宗仁科技（平潭）股份有限公司变更事项:地址变更前权利人:350002 福建省福州市鼓楼区工业路523号变更后权利人:350400 福建省福州市平潭综合实验区北厝镇金井湾二路台湾创业园9号楼2层
2015-08-12	公开	公开
2015-09-09	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101624658485 IPC(主分类):G01K 15/00 专利申请号:2015102330693 申请日:20150508

共 50 条

[41]

一种霍尔传感器芯片测试系统 [P].

姜帆 .

中国专利 :CN117825928A ,2024-04-05

[42]

一种温度传感器批量测试系统 [P].

王小波 ;

刘玉正 ;

余荣安 ;

唐新颖 .

中国专利 :CN110398304A ,2019-11-01

[43]

温度传感器测试系统 [P].

韩国建 ;

傅慧祥 ;

柳智勇 ;

代汉刚 ;

张红光 .

中国专利 :CN102435351B ,2012-05-02

[44]

一种基于数字传感芯片的温度脉动仪 [P].

于龙昆 ;

沈红 ;

卢芊芊 ;

何冰 ;

路昌炜 .

中国专利 :CN110836731A ,2020-02-25

[45]

一种基于温度响应的芯片测试方法及测试系统 [P].

薛冰 .

中国专利 :CN119471327A ,2025-02-18

[46]

一种基于温度响应的芯片测试方法及测试系统 [P].

薛冰 .

中国专利 :CN119471327B ,2025-03-25

[47]

CMOS芯片自动开短路测试系统及测试方法 [P].

钟岳良 .

中国专利 :CN103076530A ,2013-05-01

[48]

一种MOS结构的可集成高灵敏度温度传感芯片 [P].

王凯 ;

金昕 .

中国专利 :CN117705310A ,2024-03-15

[49]

负压传感芯片测试的装置和系统 [P].

张之浩 ;

魏宝节 ;

刘端 .

中国专利 :CN222379837U ,2025-01-21

[50]

一种温度变送器温度传感测试装置 [P].

魏浩全 ;

黄静 .

中国专利 :CN220288835U ,2024-01-02

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