一种用于集成电路测试的FPGA配置系统

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201520539024.4

申请日：

2015-07-23

公开(公告)号：

CN204789920U

公开(公告)日：

2015-11-18

发明(设计)人：

李泳明袁琰陈良

申请人：

申请人地址：

100070 北京市丰台区海鹰路1号2号楼7层

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

G01R313185

代理机构：

北京国林贸知识产权代理有限公司 11001

代理人：

李桂玲;杜国庆

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2015-11-18	授权	授权

共 50 条

[1]

一种用于集成电路测试的FPGA配置系统及方法 [P].

李泳明 ;

袁琰 ;

陈良 .

中国专利 :CN104965168B ,2015-10-07

[2]

一种用于集成电路测试的基板 [P].

谭小春 .

中国专利 :CN2788196Y ,2006-06-14

[3]

一种用于集成电路的测试板 [P].

徐梦凌 ;

胡泽晓 ;

詹媛晴 ;

钟吉 .

中国专利 :CN221960205U ,2024-11-05

[4]

分布式集成电路测试系统 [P].

叶剑文 .

中国专利 :CN215005735U ,2021-12-03

[5]

集成电路的测试系统 [P].

连高城 ;

叶剑文 ;

赵静一 .

中国专利 :CN208607321U ,2019-03-15

[6]

一种用于集成电路测试的转接板 [P].

吴龙军 .

中国专利 :CN208109874U ,2018-11-16

[7]

集成电路测试系统 [P].

叶剑文 .

中国专利 :CN207799022U ,2018-08-31

[8]

集成电路测试系统 [P].

祁俊华 .

中国专利 :CN207798988U ,2018-08-31

[9]

一种集成电路测试系统 [P].

徐正元 .

中国专利 :CN203012088U ,2013-06-19

[10]

一种集成电路测试系统 [P].

马云龙 ;

程莹 .

中国专利 :CN217238291U ,2022-08-19

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